[發明專利]一種不良電芯剔除方法、設備、控制器、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202310334608.7
• 申請日: 2023-03-30
• 公開（公告）號: CN116273978A
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 請求不公布姓名
• 申請（專利權）人: 廣東利元亨智能裝備股份有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 喬歡歡

1.一種不良電芯剔除方法，其特征在于，包括：

電芯流轉至入殼工位后，獲取電芯入殼時的入殼壓力；

根據所述入殼壓力判斷對應電芯入殼是否NG，將入殼NG的電芯標記為入殼NG電芯，將入殼OK的電芯標記為入殼OK電芯；

電芯流轉至焊接工位時，控制極柱焊接機構僅對入殼OK電芯進行極柱焊接；

電芯流轉至焊接檢測工位時，控制焊接檢測機構僅對入殼OK電芯進行極柱焊接質量檢測，得到相應的極柱焊接質量檢測結果；

控制排料機構對經過焊接檢測工位的入殼NG電芯和焊接檢測NG電芯進行排料；所述焊接檢測NG電芯為極柱焊接質量檢測結果為NG的電芯。

2.根據權利要求1所述的不良電芯剔除方法，其特征在于，所述根據所述入殼壓力判斷對應電芯入殼是否NG，包括：

判斷所述入殼壓力是否大于預置理論壓力值；若是，判定對應電芯入殼NG；若否，判定對應電芯入殼OK。

3.根據權利要求1所述的不良電芯剔除方法，其特征在于，所述入殼工位設有一次編碼器，所述將入殼NG的電芯標記為入殼NG電芯，將入殼OK的電芯標記為入殼OK電芯，包括：

控制所述一次編碼器基于電芯所處入殼機構的實時位置信息進行編碼，得到對應電芯的一次編碼值；

將所述一次編碼值與關于對應電芯入殼是否NG的判定結果進行關聯，以完成入殼NG電芯和入殼OK電芯的標記。

4.根據權利要求3所述的不良電芯剔除方法，其特征在于，所述焊接工位設有二次編碼器，所述控制極柱焊接機構僅對入殼OK電芯進行極柱焊接，包括：

控制所述二次編碼器基于焊接工位上電芯的實時位置信息進行編碼，得到二次編碼值；

將所述二次編碼值與對應電芯的一次編碼值進行關聯，使得所述二次編碼值攜帶關于對應電芯入殼是否NG的判定結果；

當二次編碼值攜帶的判定結果為對應電芯入殼OK時，對相應電芯進行極柱焊接。

5.根據權利要求4所述的不良電芯剔除方法，其特征在于，所述焊接檢測工位設有三次編碼器，所述控制焊接檢測機構僅對入殼OK電芯進行極柱焊接質量檢測，包括：

控制所述三次編碼器基于焊接檢測工位上電芯的實時位置信息進行編碼，得到三次編碼值；

將所述三次編碼值與對應電芯的二次編碼值進行關聯，使得所述三次編碼值攜帶關于對應電芯入殼是否NG的判定結果；

當三次編碼值攜帶的判定結果為對應電芯入殼OK時，對相應電芯進行極柱焊接檢測。

6.一種不良電芯剔除設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲指令；其中，所述指令用于實現如權利要求1-5任意一項所述的不良電芯剔除方法；

處理器，用于執行所述存儲器中的指令。

7.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-5任意一項所述的不良電芯剔除方法。

8.一種不良電芯剔除控制器，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于在電芯流轉至入殼工位后，獲取電芯入殼時的入殼壓力；

入殼檢測模塊，用于根據所述入殼壓力判斷對應電芯入殼是否NG，將入殼NG的電芯標記為入殼NG電芯，將入殼OK的電芯標記為入殼OK電芯；

第一控制模塊，用于在電芯流轉至焊接工位時，控制極柱焊接機構僅對入殼OK電芯進行極柱焊接；

第二控制模塊，用于在電芯流轉至焊接檢測工位時，控制焊接檢測機構僅對入殼OK電芯進行極柱焊接質量檢測，得到相應的極柱焊接質量檢測結果；

第三控制模塊，用于控制NG排料機構對經過焊接檢測工位的入殼NG電芯和焊接檢測NG電芯進行排料；所述焊接檢測NG電芯為極柱焊接質量檢測結果為NG的電芯。

9.一種不良電芯剔除裝置，其特征在于，包括入殼機構、極柱焊接機構、焊接檢測機構、排料機構和如權利要求8所述的不良電芯剔除控制器。