[發(fā)明專利]測厚校準方法、裝置、設備和存儲介質(zhì)

有效

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• 申請日: 2023-03-30
• 公開（公告）號: CN116026263B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發(fā)明（設計）人: 葛銘;沈井學;魏江;張燴;范靖男
• 申請（專利權）人: 杭州百子尖科技股份有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 康歡歡

本發(fā)明公開了一種測厚校準方法、裝置、設備和存儲介質(zhì)。該測厚校準方法包括：獲取測厚儀對校準樣片進行掃描得到的掃描數(shù)據(jù)，其中，所述掃描數(shù)據(jù)的數(shù)量為多個；獲取所述校準樣片的標準數(shù)據(jù)；基于所述掃描數(shù)據(jù)和所述標準數(shù)據(jù)確定掃描補償量的標準差；確定所述標準差是否滿足第一預設校準規(guī)則；若滿足第一預設校準規(guī)則，基于所述掃描數(shù)據(jù)和所述標準數(shù)據(jù)確定所述掃描補償量，并基于所述掃描補償量修正所述測厚儀的掃描計算公式。通過采用上述方案，解決了解決現(xiàn)有的測厚儀無法對整機結(jié)構磨損松動造成的偏差進行校準的問題。

技術領域

本發(fā)明涉及測厚儀的技術領域，尤其涉及一種測厚校準方法、裝置、設備和存儲介質(zhì)。

背景技術

機器視覺是人工智能正在快速發(fā)展的一個分支。簡單說來，機器視覺就是用機器代替人眼來做測量和判斷。在鋰電池極片的涂敷生產(chǎn)環(huán)節(jié)，需要使用測厚儀這一機器視覺產(chǎn)品對鋰電池極片進行實時在線厚度或者面密度檢測，測厚儀通常為射線測厚儀，在電池極片整個涂布生產(chǎn)過程中，測厚儀的射線檢測窗口持續(xù)不斷的發(fā)出射線對產(chǎn)線上電池極片進行在線掃描，以達到實時檢測產(chǎn)線上電池極片涂布的質(zhì)量，即檢測電池極片的厚度或者面密度等。

由于鋰電池極片涂布生產(chǎn)車間常年持續(xù)生產(chǎn)，產(chǎn)線設備幾乎沒有停機時間，因此測厚儀也處于常年持續(xù)運行的狀態(tài)，因此測厚儀設備長期高強度的運行，對設備結(jié)構考驗極大，且隨著時間的推移，測厚儀設備的運行導軌，支撐機構等逐漸出現(xiàn)松動磨損的現(xiàn)象，這將直接導致測厚儀的整機檢測精度降低，檢測準確性無法得到有效保障。目前行業(yè)中針對這一問題主要采取的辦法是，測厚儀定期進行校準，即設定一個周期時間，將測厚儀的傳感器退出到被測材料外邊靜止，然后啟動測厚儀內(nèi)部校準程序，但此方法存在一個嚴重的缺陷，即測厚儀只能自檢出因射線裝置松動衰減造成的影響，且該自校驗所修正的也只是靜態(tài)狀態(tài)下的誤差波動，而對于測厚儀整個傳感器掃描行程內(nèi)的誤差波動無法進行檢測和校準。并且在設備無法判斷自身結(jié)構是否穩(wěn)定的情況下進行生產(chǎn)操作，對廠家所生產(chǎn)的產(chǎn)品帶來極大的安全隱患。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種測厚校準方法、裝置、設備和存儲介質(zhì)，以解決現(xiàn)有的測厚儀無法對整機結(jié)構磨損松動造成的偏差進行校準的問題。

根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種測厚校準方法，用于測厚儀的校準，所述測厚校準方法包括：

獲取測厚儀對校準樣片進行掃描得到的掃描數(shù)據(jù)，其中，所述掃描數(shù)據(jù)的數(shù)量為多個；

獲取所述校準樣片的標準數(shù)據(jù)；

基于所述掃描數(shù)據(jù)和所述標準數(shù)據(jù)確定掃描補償量的標準差；

確定所述標準差是否滿足第一預設校準規(guī)則；

若滿足第一預設校準規(guī)則，基于所述掃描數(shù)據(jù)和所述標準數(shù)據(jù)確定所述掃描補償量，并基于所述掃描補償量修正所述測厚儀的掃描計算公式。

在本發(fā)明的可選實施例中，所述確定所述標準差是否滿足第一預設校準規(guī)則，包括：

確定所述標準差是否大于第一預設值；

若所述標準差大于所述第一預設值，確定滿足第一預設校準規(guī)則；

若所述標準差小于或等于所述第一預設值，確定不符合第一預設校準規(guī)則，并結(jié)束校準，發(fā)出結(jié)構穩(wěn)定提醒信息。

在本發(fā)明的可選實施例中，所述基于所述掃描數(shù)據(jù)和所述標準數(shù)據(jù)確定所述掃描補償量，并基于所述掃描補償量修正所述測厚儀的掃描計算公式之前，還包括：

計算所述掃描數(shù)據(jù)的歐式距離；

確定所述歐式距離是否符合第二預設校準規(guī)則；

若所述歐式距離符合第二預設校準規(guī)則，執(zhí)行基于所述掃描數(shù)據(jù)和所述標準數(shù)據(jù)確定所述掃描補償量，并基于所述掃描補償量修正所述測厚儀的掃描計算公式的步驟；