[發(fā)明專(zhuān)利]一種AFE芯片采樣通道分配方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202310267924.7
• 申請(qǐng)日: 2023-03-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN116400619A
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李毅崑;陳林昱;謝瀚龍;韓嶺;朱茂華;楊大春
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 廣州巨灣技研有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G05B19/042
• 分類(lèi)號(hào): G05B19/042
• 代理公司: 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245
• 代理人: 鄭秋松

本發(fā)明公開(kāi)了一種AFE芯片采樣通道分配方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。本發(fā)明AFE芯片采樣通道分配方法包括步驟計(jì)算所需的AFE芯片數(shù)；計(jì)算全部AFE芯片中不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道總數(shù)；設(shè)定任意兩個(gè)AFE芯片之間不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)的允許差值，計(jì)算每個(gè)AFE芯片各自不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)、電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)；根據(jù)所述每個(gè)AFE芯片各自不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)、所述每個(gè)AFE芯片各自電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)，確定每個(gè)AFE芯片各自電連接采樣點(diǎn)的采樣通道的位置。本發(fā)明能夠?qū)FE芯片的采樣通道進(jìn)行自動(dòng)分配。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于動(dòng)力電池系統(tǒng)的技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種AFE芯片采樣通道分配方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

電池管理系統(tǒng)中，AFE芯片(Analog?Front?End，模擬前端芯片)作為直連電池包進(jìn)行數(shù)據(jù)信號(hào)采樣和處理的單元，是電動(dòng)汽車(chē)中電池管理系統(tǒng)(BMS)在面對(duì)電池包時(shí)的關(guān)鍵電子硬件設(shè)備，BMS系統(tǒng)中多顆AFE芯片為多顆集連的結(jié)構(gòu)。AFE芯片通過(guò)自身的采樣通道來(lái)獲取電池包的電壓、電流、溫度等數(shù)據(jù)信號(hào)，通常電芯上設(shè)有多個(gè)采樣點(diǎn)，每個(gè)采樣點(diǎn)都需要分配有一個(gè)AFE芯片的采樣通道，因此如何配置采樣通道對(duì)BMS系統(tǒng)的設(shè)計(jì)生產(chǎn)效能存在影響。

在現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)AFE芯片中采樣通道的分配依舊停留在人工設(shè)計(jì)的階段。但是，由于不同芯片廠家所提供的AFE芯片規(guī)格不同，單顆AFE芯片所能提供的采樣通道數(shù)也各有差異，電動(dòng)汽車(chē)主機(jī)廠在實(shí)際設(shè)計(jì)生產(chǎn)時(shí)往往在產(chǎn)品分配矩陣中采用多款A(yù)FE芯片進(jìn)行開(kāi)發(fā)，且不同廠家的AFE芯片連電連接電池包的規(guī)則也不相同，再加上不同主機(jī)廠所開(kāi)發(fā)的電池包電壓不同、電芯串聯(lián)數(shù)不同，導(dǎo)致設(shè)計(jì)人員在人工分配某個(gè)規(guī)格的AFE芯片采樣通道時(shí)耗費(fèi)了大量的時(shí)間，而且人工分配也很容易發(fā)生錯(cuò)誤。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷與不足，本發(fā)明的第一目的在于提供一種AFE芯片采樣通道分配方法，第二目的在于提供一種AFE芯片采樣通道分配系統(tǒng)，第三目的在于提供一種存儲(chǔ)介質(zhì)，用于對(duì)AFE芯片的采樣通道進(jìn)行自動(dòng)化分配，避免人工分配容易出錯(cuò)、分配設(shè)計(jì)耗時(shí)長(zhǎng)的問(wèn)題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種AFE芯片采樣通道分配方法，包括步驟如下：

獲取電池包內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)、單個(gè)AFE芯片采樣通道數(shù)的數(shù)據(jù)，計(jì)算所需的AFE芯片數(shù)；

根據(jù)所需的所述AFE芯片數(shù)、所述單個(gè)AFE芯片采樣通道數(shù)、所述電池包內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)，計(jì)算全部AFE芯片中不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道總數(shù)；

設(shè)定任意兩個(gè)AFE芯片之間不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)的允許差值，然后根據(jù)全部AFE芯片中所述不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道總數(shù)，計(jì)算每個(gè)AFE芯片各自不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)、電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)；

根據(jù)所述每個(gè)AFE芯片各自不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)、所述每個(gè)AFE芯片各自電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)，確定每個(gè)AFE芯片各自電連接采樣點(diǎn)的采樣通道的位置。

優(yōu)選地，所述計(jì)算所需的AFE芯片數(shù)的步驟為：

將電池包內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)除以單個(gè)AFE芯片采樣通道數(shù)后向上取整，將大于或等于所述向上取整的值作為所需的AFE芯片數(shù)。

優(yōu)選地，所述計(jì)算全部AFE芯片中不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)的步驟為：

將所需的AFE芯片數(shù)乘以單個(gè)AFE芯片采樣通道數(shù)再減去電池包內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)得到的值，作為全部AFE芯片中不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道總數(shù)。

進(jìn)一步地，所需的AFE芯片數(shù)為電池包內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)除以單個(gè)AFE芯片采樣通道數(shù)后向上取整的最小值。

優(yōu)選地，所述計(jì)算每個(gè)AFE芯片各自不電連接采樣點(diǎn)的采樣通道數(shù)的步驟為：