[發(fā)明專利]一種AFE芯片采樣通道分配方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310267924.7
• 申請日: 2023-03-17
• 公開（公告）號: CN116400619A
• 公開（公告）日: 2023-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李毅崑;陳林昱;謝瀚龍;韓嶺;朱茂華;楊大春
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州巨灣技研有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 廣州市華學(xué)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245
• 代理人: 鄭秋松

1.一種AFE芯片采樣通道分配方法，其特征在于，包括步驟如下：

獲取電池包內(nèi)采樣點數(shù)、單個AFE芯片采樣通道數(shù)的數(shù)據(jù)，計算所需的AFE芯片數(shù)；

根據(jù)所需的所述AFE芯片數(shù)、所述單個AFE芯片采樣通道數(shù)、所述電池包內(nèi)采樣點數(shù)，計算全部AFE芯片中不電連接采樣點的采樣通道總數(shù)；

設(shè)定任意兩個AFE芯片之間不電連接采樣點的采樣通道數(shù)的允許差值，然后根據(jù)全部AFE芯片中所述不電連接采樣點的采樣通道總數(shù)，計算每個AFE芯片各自不電連接采樣點的采樣通道數(shù)、電連接采樣點的采樣通道數(shù)；

根據(jù)所述每個AFE芯片各自不電連接采樣點的采樣通道數(shù)、所述每個AFE芯片各自電連接采樣點的采樣通道數(shù)，確定每個AFE芯片各自電連接采樣點的采樣通道的位置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述AFE芯片采樣通道分配方法，其特征在于，所述計算所需的AFE芯片數(shù)的步驟為：

將電池包內(nèi)采樣點數(shù)除以單個AFE芯片采樣通道數(shù)后向上取整，將大于或等于所述向上取整的值作為所需的AFE芯片數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述AFE芯片采樣通道分配方法，其特征在于，所述計算全部AFE芯片中不電連接采樣點的采樣通道數(shù)的步驟為：

將所需的AFE芯片數(shù)乘以單個AFE芯片采樣通道數(shù)再減去電池包內(nèi)采樣點數(shù)得到的值，作為全部AFE芯片中不電連接采樣點的采樣通道總數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述AFE芯片采樣通道分配方法，其特征在于，所需的AFE芯片數(shù)為電池包內(nèi)采樣點數(shù)除以單個AFE芯片采樣通道數(shù)后向上取整的最小值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述AFE芯片采樣通道分配方法，其特征在于，所述計算每個AFE芯片各自不電連接采樣點的采樣通道數(shù)的步驟為：

設(shè)定有整數(shù)k0、k1、k2、k3、…、km個AFE芯片，各自不電連接采樣點的采樣通道數(shù)分別為整數(shù)j、j+1、j+2、j+3、...、j+m；

其中，k0+k1+k2+k3+…+km等于所需的AFE芯片數(shù)，j大于或等零，m表示允許差值的最大值，k0*j+k1*(j+1)+k2*(j+2)+k3*(j+3)+…+km*(j+m)等于所需的AFE芯片數(shù)乘以單個AFE芯片采樣通道數(shù)后再減去電池包內(nèi)采樣點數(shù)的值，j+m小于或等于單個AFE芯片采樣通道數(shù)；

計算所述k0、k1、k2、k3、…、km和j、j+1、j+2、j+3、...、j+m的值，得到每個AFE芯片各自相應(yīng)不電連接采樣點的采樣通道數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述AFE芯片采樣通道分配方法，其特征在于，所述將每個AFE芯片各自的采樣通道與電池包內(nèi)相應(yīng)的采樣點匹配的步驟為：

獲取每個AFE芯片各自的采樣通道設(shè)置規(guī)則表的數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述AFE芯片的采樣通道設(shè)置規(guī)則表，分配對應(yīng)不電連接采樣點的采樣通道的位置、電連接采樣點的采樣通道的位置，將電連接采樣點的采樣通道與電池包內(nèi)的采樣點相匹配。