[發(fā)明專利]閃存檢測方法、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310242687.9
• 申請日: 2023-03-14
• 公開（公告）號: CN116434813A
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張旭航;朱祖建;鄭天翼
• 申請（專利權(quán)）人: 瑞芯微電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/18;G06F18/24;G06F18/214
• 代理公司: 福州市博深專利事務(wù)所(普通合伙) 35214
• 代理人: 柯玉珊

1.一種閃存檢測方法，其特征在于，包括：

獲取閾值電壓分布分類模型，所述閾值電壓分布分類模型包括基于閃存塊中的各個(gè)頁的讀取出錯(cuò)數(shù)確定的有效閾值電壓分布和無效閾值電壓分布；

針對待測閃存塊中的各個(gè)頁進(jìn)行讀取以獲取所述各個(gè)頁的出錯(cuò)數(shù)；

基于所述出錯(cuò)數(shù)獲取與所述待測閃存塊相對應(yīng)的塊出錯(cuò)數(shù)，以將所述塊出錯(cuò)數(shù)與預(yù)定閾值進(jìn)行比較；

如果所述塊出錯(cuò)數(shù)小于所述預(yù)定閾值，將所述待測閃存塊的閾值電壓分布輸入所述閾值電壓分布分類模型；以及

如果基于所述閾值電壓分布分類模型確定所述閾值電壓分布有效，確定所述待測閃存塊的檢測通過。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存檢測方法，其特征在于，基于所述出錯(cuò)數(shù)獲取與所述待測閃存塊相對應(yīng)的塊出錯(cuò)數(shù)包括：

基于所述各個(gè)頁的所述出錯(cuò)數(shù)，得到平均頁出錯(cuò)數(shù)或最大頁出錯(cuò)數(shù)；以及

將所述平均頁出錯(cuò)數(shù)或所述最大頁出錯(cuò)數(shù)作為所述塊出錯(cuò)數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存檢測方法，其特征在于，還包括：

在目標(biāo)閃存塊被編程之后，基于所述目標(biāo)閃存塊的上次讀取出錯(cuò)數(shù)或所述目標(biāo)閃存塊的上次編程距當(dāng)前的時(shí)間間隔，確定所述目標(biāo)閃存塊是否達(dá)到檢測條件；以及

如果所述目標(biāo)閃存塊達(dá)到所述檢測條件，將所述目標(biāo)閃存塊作為所述待測閃存塊。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存檢測方法，其特征在于，還包括：

如果基于所述閾值電壓分布分類模型確定所述閾值電壓分布無效，確定所述待測閃存塊的檢測失敗。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存檢測方法，其特征在于，還包括：

如果所述塊出錯(cuò)數(shù)大于或等于所述預(yù)定閾值，確定所述待測閃存塊的檢測失敗。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存檢測方法，其特征在于，還包括：

獲取所述待測閃存塊的所述閾值電壓分布，包括：

根據(jù)所述待測閃存塊的類型，獲取起點(diǎn)電壓、終點(diǎn)電壓和讀取步長；

由所述起點(diǎn)電壓至所述終點(diǎn)電壓，依次以所述讀取步長為電壓差，讀取每一電壓值下對應(yīng)的數(shù)據(jù)量；以及

對相鄰電壓值之間數(shù)據(jù)量的差值進(jìn)行擬合，得到所述閾值電壓分布。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存檢測方法，其特征在于，還包括：

訓(xùn)練得到所述閾值電壓分布分類模型，包括：

獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的閃存塊的閾值電壓分布數(shù)據(jù)；以及

根據(jù)所述閾值電壓分布數(shù)據(jù)對分類器進(jìn)行訓(xùn)練，得到所述閾值電壓分布分類模型。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的閃存檢測方法，其特征在于，獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的閃存塊的閾值電壓分布數(shù)據(jù)包括：

讀取當(dāng)前閃存塊中每一頁的出錯(cuò)數(shù)，得到當(dāng)前所述閃存塊對應(yīng)的出錯(cuò)值；

判斷當(dāng)前所述閃存塊對應(yīng)的所述出錯(cuò)值是否小于出錯(cuò)閾值；

若是，則讀取當(dāng)前所述閃存塊的閾值電壓分布數(shù)據(jù)，并將所述閾值電壓分布數(shù)據(jù)記錄為有效；以及

若否，則將當(dāng)前所述閃存塊標(biāo)記為壞塊，并讀取當(dāng)前所述閃存塊的閾值電壓分布數(shù)據(jù)，將所述閾值電壓分布數(shù)據(jù)記錄為無效。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的閃存檢測方法，其特征在于，獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的閃存塊的閾值電壓分布數(shù)據(jù)還包括：

判斷是否所有所述閃存塊均完成讀取操作；

若否，則對下一所述閃存塊執(zhí)行讀取操作，直至所有所述閃存塊均完成讀取操作。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的閃存檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述閾值電壓分布數(shù)據(jù)對分類器進(jìn)行訓(xùn)練，得到所述閾值電壓分布分類模型包括：

根據(jù)有效的所述閾值電壓分布數(shù)據(jù)得到有效閾值電壓分布模型；以及

根據(jù)無效的所述閾值電壓分布數(shù)據(jù)得到無效閾值電壓分布模型。