[發明專利]一種三維物體檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 202310184698.6
• 申請日: 2023-02-28
• 公開（公告）號: CN116052160A
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 劉莉;陳旭杰
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G06V20/64
• 分類號: G06V20/64;G06T7/60;G06T7/70;G06T7/80
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 韓園園;張穎玲

1.一種三維物體檢測方法，所述方法包括：

基于三維的第一物體在待檢測圖像中的投影框，確定所述第一物體的多個著地點的第一平面坐標，其中，所述待檢測圖像是由圖像采集裝置進行采集的；

基于所述第一物體的位置信息和尺寸信息建立的世界坐標系，獲取第一世界坐標信息，其中，所述第一世界坐標信息包括所述第一物體多個著地點的第一世界坐標和所述第一物體多個頂點的第一世界坐標，所述尺寸信息是基于所述第一物體的圖像特征獲取的；

基于所述第一物體多個著地點的第一平面坐標、第一世界坐標和所述圖像采集裝置的內參信息，利用坐標轉換處理，獲取將所述第一物體的世界坐標轉換為相機坐標的外參信息，其中，所述外參信息用于基于所述第一世界坐標信息獲取所述第一物體的第一相機坐標信息_。

2.如權利要求1所述的方法，所述方法還包括：

基于所述外參信息、所述內參信息和第二物體在所述待檢測圖像中的多個著地點的第二平面坐標，利用坐標轉換處理，獲取所述第二物體在所述第一物體的世界坐標系中多個著地點的第二世界坐標，所述第二物體的尺寸信息未知，所述第二物體與所述第一物體之間的距離小于距離閾值；

基于所述第二物體頂點的第二平面坐標和所述著地點的第二世界坐標，利用坐標轉換處理，確定所述第二物體的高度，其中，所述第二物體的高度用于確定所述第二物體多個頂點的第二世界坐標。

3.如權利要求2所述的方法，所述方法還包括：

基于所述第二物體多個著地點的第二世界坐標和所述第二物體的高度，利用所述外參信息，確定所述第二物體的第二相機坐標信息。

4.如權利要求3所述的方法，所述基于所述第二物體多個著地點的第二世界坐標和所述第二物體的高度，利用所述外參信息，確定所述第二物體的第二相機坐標信息，包括：

基于所述多個著地點的第二世界坐標和所述第二物體的高度確定所述第二物體的第二世界坐標系信息；

基于所述第二世界坐標系信息利用所述外參信息，確定所述第二物體的第二相機坐標信息。

5.如權利要求2所述的方法，所述基于所述第二物體頂點的第二平面坐標和所述著地點的第二世界坐標，利用坐標轉換處理，確定所述第二物體的高度，包括：

將所述第二物體頂點對應著地點的第二世界坐標作為所述第二物體頂點的第二世界坐標中的兩個平面參數；

基于所述第二物體頂點的第二平面坐標和所述第二物體頂點對應的第二世界坐標中的兩個平面參數，利用坐標轉換處理，確定所述第二物體的高度。

6.如權利要求2所述的方法，所述基于所述第二物體頂點的第二平面坐標和所述著地點的第二世界坐標，利用坐標轉換處理，確定所述第二物體的高度，包括：

基于多個所述第二物體頂點的第二平面坐標和多個所述著地點的第二世界坐標，利用坐標轉換處理，確定多個所述第二物體的高度；

對多個所述第二物體的高度進行平均，確定所述第二物體的高度。

7.如權利要求3所述的方法，所述基于所述外參信息、所述內參信息和第二物體在所述待檢測圖像中的多個著地點的第二平面坐標，利用坐標轉換處理，獲取所述第二物體在所述第一物體的世界坐標系中多個著地點的第二世界坐標，包括：

獲取與N個第一物體一一對應的N個外參信息，其中，N為大于1的整數，其中，所述第二物體與N個所述第一物體之間的距離均小于距離閾值；

基于每一所述外參信息、所述內參信息和所述多個著地點的第二平面坐標，利用坐標轉換處理，獲取所述第二物體與N個所述第一物體的世界坐標系一一對應的N組第二世界坐標，其中，每一組第二世界坐標包括所述第二物體多個著地點的第二世界坐標；

對應地，所述基于所述第二物體多個著地點的第二世界坐標和所述第二物體的高度，利用所述外參信息，確定所述第二物體的第二相機坐標信息，包括：

基于所述N組第二世界坐標和所述第二物體的高度利用所述N個外參信息，確定N組第二相機坐標，其中，每一組第二相機坐標包括多個著地點和頂點的第二相機坐標；

對所述N組第二相機坐標中的每一第二相機坐標進行加權處理，得到處理后的第二相機坐標信息。