[發明專利]對象檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202310177298.2
• 申請日: 2023-02-28
• 公開（公告）號: CN116125242A
• 公開（公告）日: 2023-05-16
• 發明（設計）人: 李文剛;鄭健;李官友
• 申請（專利權）人: 靖江安通電子設備有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01N21/88;G01R21/00;G01R31/00
• 代理公司: 蘇州途正專利代理有限公司 32559
• 代理人: 胡培培

1.對象檢測系統，其特征在于，包括圖像獲取端、參數獲取端、檢測中心以及顯示終端；

所述檢測中心包括圖像分析單元、預設數據庫、功率區間參數分析單元、數值分析單元、溫度調控單元以及極限數值確定單元；

所述圖像獲取端，用于對需要進行測試的電子元件外表面的圖像進行獲取，并將所獲取的電子元件外表面圖像傳輸至檢測中心內；

所述圖像分析單元，對電子元件外表面圖像進行接收，并從預設數據庫內提取預設的圖像模板，將電子元件外表面圖像與圖像模板進行比對分析，通過分析結果，對電子元件是否異常進行判定；

所述功率區間參數分析單元，對測試信號進行接收，從預設數據庫提取功率測試區間參數，根據所提取的功率測試區間參數，再通過功率測試區間對電子元件進行自測試處理，啟動參數獲取端，對電子元件的輸出功率參數進行獲取，并將所獲取的輸出功率參數傳輸至功率區間參數分析單元內，根據分析結果，確定單組功率測試區間；

所述數值分析單元，對功率測試區間進行接收，并生成溫度調控信號，傳輸至溫度調控單元內，采用此功率測試區間對電子元件進行再測試，并在測試過程中，通過溫度調控單元對測試溫度進行調控，并對測試參數進行分析，判定此電子元件是否合格；

所述極限數值確定單元，對合格產品進行溫度極限測試處理，將合格產品分類為標佳產品以及次佳產品，并傳輸至顯示終端內進行顯示。

2.根據權利要求1所述的對象檢測系統，其特征在于，所述圖像分析單元，將電子元件外表面圖像與圖像模板進行比對分析的具體方式為：

將所接收的電子元件外表面圖像與圖像模板進行重合度比對分析，得到重合參數，并將重合參數標記為CH_i，其中i代表不同的電子元件；

將重合參數CH_i與預設參數Y1進行比對，其中Y1為預設值，當CH_i＜Y1時，將電子元件標記為異常品，并傳輸至顯示終端內進行顯示，反之，將對應的電子元件進行下一步處理，生成測試信號，并將測試信號傳輸至功率區間參數分析單元內。

3.根據權利要求2所述的對象檢測系統，其特征在于，所述功率區間參數分析單元，通過功率測試區間對電子元件進行自測試處理的具體方式為：

S1、將所提取的功率測試區間參數依次標記為(0，X1】，(X1，X2】以及(X2，X3】，其中X1、X2以及X3均為預設的邊界參數；

S2、確定第一組功率測試區間(0，X1】，對電子元件進行測試，將電子元件的輸入參數限制在第一組功率測試區間內，并將輸入參數逐漸調節，將輸入參數標記為SR_i，通過參數獲取端，獲取電子元件的輸出參數，并將其標記為SC_i，并通過時刻改變的輸入參數以及輸出參數建立第一組波形圖，采用得到若干個導向因子K_i，并將若干個導向因子K_i進行捆綁，得到第一組待分析捆綁包；

S3、再確定第二組功率測試區間(X1，X2】，采用步驟S2同樣的測試方式，建立第二組波形圖，以及得到第二組待分析捆綁包；

S4、確定第三組功率測試區間(X2，X3】，采用步驟S2同樣的測試方式，建立第三組波形圖，并得到第三組待分析捆綁包；

S5、從預設數據庫內提取預設比對區間，其中預設比對區間為預設值，將三組待分析捆綁包與預設比對區間進行比對，當三組待分析捆綁包內部的導向因子均屬于此預設比對區間時，進行下一步處理，反之，將此電子元件標記為異常品，并傳輸至顯示終端內進行顯示；

S6、將三組波形圖進行提取，并進行波動分析，獲取波動幅度最大的一組波形圖，并提取對應的功率測試區間，將所提取的功率測試區間傳輸至數值分析單元內。