[發(fā)明專(zhuān)利]反熔絲結(jié)構(gòu)及反熔絲結(jié)構(gòu)的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310153953.0 | 申請(qǐng)日: | 2023-02-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115910990B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃金榮 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L23/525 | 分類(lèi)號(hào): | H01L23/525;H10B12/00 |
| 代理公司: | 華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 史治法 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反熔絲 結(jié)構(gòu) 制備 方法 | ||
1.一種反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,包括位線結(jié)構(gòu)及與所述位線結(jié)構(gòu)電連接的選通結(jié)構(gòu);
所述選通結(jié)構(gòu)包括依次疊置的可變電阻結(jié)構(gòu)、閾值選通結(jié)構(gòu)及字線結(jié)構(gòu),所述可變電阻結(jié)構(gòu)與所述位線結(jié)構(gòu)相鄰,所述可變電阻結(jié)構(gòu)、所述閾值選通結(jié)構(gòu)及所述字線結(jié)構(gòu)的疊置方向與所述位線結(jié)構(gòu)的厚度方向相交。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述選通結(jié)構(gòu)至少部分位于所述位線結(jié)構(gòu)的內(nèi)部。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述位線結(jié)構(gòu)內(nèi)形成有第一溝槽;
所述第一溝槽內(nèi)形成有兩個(gè)共用所述位線結(jié)構(gòu)的所述選通結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,兩個(gè)共用所述位線結(jié)構(gòu)的所述選通結(jié)構(gòu)以所述第一溝槽的對(duì)稱(chēng)軸對(duì)稱(chēng),所述對(duì)稱(chēng)軸平行于所述位線結(jié)構(gòu)的厚度方向。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,兩個(gè)所述選通結(jié)構(gòu)的選通時(shí)刻具有預(yù)設(shè)時(shí)間間隔。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述閾值選通結(jié)構(gòu)的頂面高于所述可變電阻結(jié)構(gòu)的頂面;
所述閾值選通結(jié)構(gòu)的底面高于所述可變電阻結(jié)構(gòu)的底面。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述字線結(jié)構(gòu)的頂面高于所述閾值選通結(jié)構(gòu)的頂面,所述字線結(jié)構(gòu)的底面不低于所述閾值選通結(jié)構(gòu)的底面。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述可變電阻結(jié)構(gòu)被配置為:
初始態(tài)為高阻態(tài);
在所述字線結(jié)構(gòu)提供的預(yù)設(shè)編程電壓驅(qū)動(dòng)下,從所述高阻態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榈妥钁B(tài);以及
在所述字線結(jié)構(gòu)提供的預(yù)設(shè)讀取電壓驅(qū)動(dòng)下,若為高阻態(tài)則讀出第一數(shù)值及若為低阻態(tài)則讀出第二數(shù)值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述預(yù)設(shè)編程電壓的幅值范圍為3.0V-4.0V;及/或
所述預(yù)設(shè)讀取電壓的幅值范圍為0V-2.0V。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述反熔絲結(jié)構(gòu)形成于存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)的預(yù)設(shè)區(qū)域內(nèi);所述預(yù)設(shè)區(qū)域選自存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)的第一金屬層的表面、第二金屬層的表面、頂層金屬層的表面和其組合。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,所述反熔絲結(jié)構(gòu)形成于動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的電容層平面。
12.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,包括如下特征中的至少一種:
所述可變電阻結(jié)構(gòu)的材料選自氧化鉿、氧化鋯、氧化鉈與氧化鋁和其組合;
所述閾值選通結(jié)構(gòu)的材料選自氧化鈦、氧化鉿、氧化鈦鉿與碲錫鍺相變材料和其組合;
所述字線結(jié)構(gòu)的材料選自鎢、銅、鈦、鋁、鉈、鉿、銣、氧化銦錫、導(dǎo)電玻璃與氧化銦鎵鋅和其組合;
所述位線結(jié)構(gòu)的材料選自鎢、銅、鈦、鋁、鉈、鉿、銣、氧化銦錫、導(dǎo)電玻璃與氧化銦鎵鋅和其組合。
13.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的反熔絲結(jié)構(gòu),其特征在于,包括如下特征中的至少一種:
所述可變電阻結(jié)構(gòu)的厚度范圍為5??-10??;
所述閾值選通結(jié)構(gòu)的厚度范圍為1nm-10nm;
所述字線結(jié)構(gòu)的厚度范圍為20nm-50nm;
所述位線結(jié)構(gòu)的厚度范圍為20nm-50nm。
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