[發(fā)明專利]一種基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310149061.3 | 申請日: | 2023-02-22 |
| 公開(公告)號: | CN116110310A | 公開(公告)日: | 2023-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張浩熙;彭濤;王斌;周啟俊;邱麗君 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州佳智彩光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 蘇州市中南偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 王廣浩 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 soc 系統(tǒng) 顯示屏 高溫 老化 測試 裝置 | ||
1.一種基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,包括:SoC主信號板、多個點屏子板、多組輸出接口轉(zhuǎn)板;
所述SoC主信號板與PC端上位機(jī)通訊連接,所述多個點屏子板分別通過信號線與SoC主信號板連接,所述SoC主信號板用于將PC端上位機(jī)發(fā)出的信號傳輸至各個點屏子板,并將各個點屏子板的數(shù)據(jù)傳輸至所述SoC主信號板;
每組輸出接口轉(zhuǎn)板與一個點屏子板連接,每組輸出接口轉(zhuǎn)板包括多個輸出接口轉(zhuǎn)板,每個輸出接口轉(zhuǎn)板可連接一個待測顯示屏。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述點屏子板的數(shù)量為n,所述輸出接口轉(zhuǎn)板為n組,每組輸出接口轉(zhuǎn)板包括兩個輸出接口轉(zhuǎn)板,所述SoC主信號板可控制點亮2n塊待測顯示屏;n≥2。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述SoC主信號板包括SoC主控芯片、千兆網(wǎng)口、DDR模塊、SD卡、IP撥碼、按鍵、輸出接口,所述SoC主控芯片通過千兆網(wǎng)口跟PC端上位機(jī)通訊;所述DDR模塊用于數(shù)據(jù)緩存;所述SD卡用于存儲系統(tǒng)文件、程序文件、配置文件;所述IP撥碼作為SoC主信號板的唯一ID;所述按鍵用于離線點屏或者離線跑腳本做老化測試流程;所述SoC主信號板的輸出接口通過連接線與點屏子板連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述點屏子板包括輸入接口、LVDS?HUB模塊、MCU主控芯片、多通道可調(diào)恒壓電源、多通道可調(diào)恒流電源、輸出接口;所述點屏子板的輸入接口通過連接線與SoC主信號板連接;所述LVDSHUB模塊把2Link?10bit?LVDS信號復(fù)制成2組2Link?10bit?LVDS信號,再分別傳輸?shù)?塊輸出接口轉(zhuǎn)板;所述MCU主控芯片通過總線信號與SoC主信號板連接,一塊SoC主信號板可同時控制多塊點屏子板的MCU,所述MCU主控芯片控制2組多通道可調(diào)恒壓電源、2組多通道可調(diào)恒流電源及GPIO信號的輸出;每個點屏子板有2個輸出接口,每個輸出接口輸出2Link10bit?LVDS信號、1組多通道可調(diào)恒壓電源、1組多通道可調(diào)恒流電源及GPIO信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述輸出接口轉(zhuǎn)板包括輸入接口和輸出接口;所述輸出接口轉(zhuǎn)板的輸入接口通過連接線與點屏子板連接;所述輸出接口轉(zhuǎn)板的輸出接口通過連接線與待測顯示屏連接,傳輸點亮待測顯示屏所需的信號、多通道電源及GPIO信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述輸出接口轉(zhuǎn)板還包括信號橋接模塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,每個SoC主信號板和每個點屏子板都使用獨立的系統(tǒng)電源供電。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述待測顯示屏為LCD屏體、OLED屏體或Micro?LED屏體,或者為LVDS、RGB、SPI、FPD-LINK、V-BY-ONE、MIPI和EDP信號類型的屏體。
9.一種基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,包括:SoC主信號板和多級點屏子板,每級點屏子板均包括多個點屏子板;
次一級點屏子板中的每個點屏子板與上一級點屏主板中的點屏主板一一連接,每個點屏子板可連接一個待測顯示屏;
所述SoC主信號板與PC端上位機(jī)通訊連接,第一級點屏子板中的多個點屏子板分別通過信號線與SoC主信號板連接,所述SoC主信號板用于將PC端上位機(jī)發(fā)出的信號傳輸至各個點屏子板,并將各個點屏子板的數(shù)據(jù)傳輸至所述SoC主信號板。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于SOC系統(tǒng)的顯示屏高溫老化測試裝置,其特征在于,所述點屏子板為m級,每一級點屏子板包括n個點屏子板,所述SoC主信號板可控制點亮m*n塊待測顯示屏;m≥2,n≥2。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州佳智彩光電科技有限公司,未經(jīng)蘇州佳智彩光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310149061.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





