[發(fā)明專(zhuān)利]一種接口測(cè)試方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202310146329.8
• 申請(qǐng)日: 2023-02-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN116185735A
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-05-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李墨慷;董麗穎
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京鎂伽機(jī)器人科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 柳虹

本申請(qǐng)公開(kāi)了一種接口測(cè)試方法及裝置，在該方法中，獲取測(cè)試配置信息，測(cè)試配置信息包括按照預(yù)設(shè)順序設(shè)置的至少2個(gè)待測(cè)試接口信息；對(duì)測(cè)試配置信息進(jìn)行解析，基于按照預(yù)設(shè)順序設(shè)置的至少2個(gè)待測(cè)試接口信息依次確定出當(dāng)前待測(cè)試接口信息；向待測(cè)試設(shè)備發(fā)送與當(dāng)前待測(cè)試接口信息相對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；接收自待測(cè)試設(shè)備返回的測(cè)試結(jié)果或測(cè)試數(shù)據(jù)。可見(jiàn)，該方法無(wú)需通過(guò)人工對(duì)多個(gè)待測(cè)試接口一一進(jìn)行測(cè)試，僅需通過(guò)對(duì)測(cè)試配置信息進(jìn)行解析自動(dòng)依次確定當(dāng)前待測(cè)試接口信息，并自動(dòng)向待測(cè)試設(shè)備發(fā)送測(cè)試指令，以及接收其測(cè)試數(shù)據(jù)或測(cè)試結(jié)果，加快了對(duì)接口進(jìn)行測(cè)試的速度，能夠提高接口測(cè)試的效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種接口測(cè)試方法及裝置。

背景技術(shù)

電子設(shè)備在投入使用前，需要進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。而測(cè)試接口是否存在異常是衡量電子設(shè)備質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)之一。

現(xiàn)有技術(shù)中，通常采用的接口測(cè)試方法為：測(cè)試人員對(duì)電子設(shè)備的每個(gè)接口進(jìn)行對(duì)應(yīng)的測(cè)試，再根據(jù)測(cè)試結(jié)果將電子設(shè)備投入使用或進(jìn)行維修。

然而，上述接口測(cè)試方法采用人工測(cè)試的方式，在電子設(shè)備的接口數(shù)量較多的情況下，容易出現(xiàn)測(cè)試耗費(fèi)時(shí)間較長(zhǎng)、人力較多等問(wèn)題，導(dǎo)致接口測(cè)試的效率降低。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種接口測(cè)試方法及裝置，旨在提高接口測(cè)試的效率。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種接口測(cè)試方法，所述方法包括：

獲取測(cè)試配置信息，所述測(cè)試配置信息包括按照預(yù)設(shè)順序設(shè)置的至少2個(gè)待測(cè)試接口信息；

對(duì)所述測(cè)試配置信息進(jìn)行解析，基于所述按照預(yù)設(shè)順序設(shè)置的至少2個(gè)待測(cè)試接口信息依次確定出當(dāng)前待測(cè)試接口信息；

向所述待測(cè)試設(shè)備發(fā)送與所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息相對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；

接收自所述待測(cè)試設(shè)備返回的測(cè)試結(jié)果，或者，接收自所述待測(cè)試設(shè)備的與所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息對(duì)應(yīng)的當(dāng)前待測(cè)試接口輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選地，所述待測(cè)試接口包括屬于類(lèi)別信息為第一類(lèi)別的待測(cè)試接口；

所述接收自所述待測(cè)試設(shè)備返回的測(cè)試結(jié)果，包括：

在所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息對(duì)應(yīng)的當(dāng)前待測(cè)試接口屬于所述第一類(lèi)別時(shí)，接收自所述待測(cè)試設(shè)備返回的所述測(cè)試結(jié)果，所述測(cè)試結(jié)果為所述待測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述測(cè)試指令自所述當(dāng)前待測(cè)試接口寫(xiě)入存儲(chǔ)器的寫(xiě)入數(shù)據(jù)和從所述存儲(chǔ)器讀出的讀出數(shù)據(jù)對(duì)比生成的結(jié)果。

可選地，所述第一類(lèi)別的待測(cè)試接口包括串行外設(shè)SPI接口或串行通信I²C接口。

可選地，所述待測(cè)試接口包括屬于類(lèi)別信息為第二類(lèi)別的待測(cè)試接口；

所述向所述待測(cè)試設(shè)備發(fā)送與所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息相對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令，包括：

在所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息對(duì)應(yīng)的當(dāng)前待測(cè)試接口屬于所述第二類(lèi)別時(shí)，向所述待測(cè)試設(shè)備發(fā)送與所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令和測(cè)試文件包，以使所述待測(cè)試設(shè)備基于所述測(cè)試指令和所述測(cè)試文件包控制與所述當(dāng)前待測(cè)試接口連接的顯示屏顯示。

可選地，所述第二類(lèi)別的待測(cè)試接口包括如下中的至少一種：低電壓差分信號(hào)LVDS接口、液晶顯示屏通信EDP接口、高清多媒體HDMI接口、移動(dòng)產(chǎn)業(yè)處理器MIPI接口或V-BY-ONE接口。

可選地，所述待測(cè)試接口包括屬于類(lèi)別信息為第三類(lèi)別的待測(cè)試接口；

所述接收自所述待測(cè)試設(shè)備的與所述當(dāng)前待測(cè)試接口信息對(duì)應(yīng)的當(dāng)前待測(cè)試接口輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：