[發明專利]一種接口測試方法及裝置在審
| 申請號： | 202310146329.8 | 申請日： | 2023-02-08 |
| 公開（公告）號： | CN116185735A | 公開（公告）日： | 2023-05-30 |
| 發明（設計）人： | 李墨慷;董麗穎 | 申請（專利權）人： | 北京鎂伽機器人科技有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 柳虹 |
| 地址： | 102200 北京市昌平區*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 接口 測試 方法 裝置 | ||
1.一種接口測試方法，其特征在于，用于對待測試設備的多個待測試接口進行測試，所述方法包括：
獲取測試配置信息，所述測試配置信息包括按照預設順序設置的至少2個待測試接口信息；
對所述測試配置信息進行解析，基于所述按照預設順序設置的至少2個待測試接口信息依次確定出當前待測試接口信息；
向所述待測試設備發送與所述當前待測試接口信息相對應的測試指令；
接收自所述待測試設備返回的測試結果，或者，接收自所述待測試設備的與所述當前待測試接口信息對應的當前待測試接口輸出的測試數據。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試接口包括屬于類別信息為第一類別的待測試接口；
所述接收自所述待測試設備返回的測試結果，包括：
在所述當前待測試接口信息對應的當前待測試接口屬于所述第一類別時，接收自所述待測試設備返回的所述測試結果，所述測試結果為所述待測試設備根據所述測試指令自所述當前待測試接口寫入存儲器的寫入數據和從所述存儲器讀出的讀出數據對比生成的結果。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一類別的待測試接口包括串行外設SPI接口或串行通信I2C接口。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試接口包括屬于類別信息為第二類別的待測試接口；
所述向所述待測試設備發送與所述當前待測試接口信息相對應的測試指令，包括：
在所述當前待測試接口信息對應的當前待測試接口屬于所述第二類別時，向所述待測試設備發送與所述當前待測試接口信息相對應的測試指令和測試文件包，以使所述待測試設備基于所述測試指令和所述測試文件包控制與所述當前待測試接口連接的顯示屏顯示。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二類別的待測試接口包括如下中的至少一種：低電壓差分信號LVDS接口、液晶顯示屏通信EDP接口、高清多媒體HDMI接口、移動產業處理器MIPI接口或V-BY-ONE接口。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試接口包括屬于類別信息為第三類別的待測試接口；
所述接收自所述待測試設備的與所述當前待測試接口信息對應的當前待測試接口輸出的測試數據，包括：
在所述當前待測試接口信息對應的當前待測試接口屬于所述第三類別時，接收自所述待測試設備的所述當前待測試接口輸出的所述測試電壓，所述測試電壓為所述待測試設備基于所述測試指令向所述當前待檢測接口輸出預設標準電壓后，自所述當前待測試接口檢測得到的電壓；
所述方法還包括：
在所述當前待測試接口信息對應的當前待測試接口屬于所述第三類別時，將所述測試電壓與所述預設標準電壓進行比較，獲得所述當前待測試接口的測試結果。
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述第三類別的待測試接口包括通用輸入輸出GPIO接口。
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