[發明專利]圖像重建方法、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202310144251.6 | 申請日: | 2023-02-20 |
| 公開(公告)號: | CN116188612A | 公開(公告)日: | 2023-05-30 |
| 發明(設計)人: | 施正遠;游祥杰 | 申請(專利權)人: | 信揚科技(佛山)有限公司 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/08;G06N3/0464 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 賀宜德 |
| 地址: | 528225 廣東省佛山市南海*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 重建 方法 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種圖像重建方法,應用于電子設備中,其特征在于,所述方法包括:
獲取目標拍攝設備拍攝得到的物體的待重建圖像,以及所述物體的樣本圖像;
基于所述待重建圖像與所述樣本圖像訓練徑向基函數網絡;
基于反卷積算法將所述徑向基函數網絡轉換為圖像重建模型,所述圖像重建模型用于對所述目標拍攝設備拍攝的圖像進行重建。
2.根據權利要求1所述的圖像重建方法,其特征在于,所述徑向基函數網絡包括輸入層、隱藏層與輸出層,其中:
所述輸入層用于作為所述徑向基函數網絡的輸入端;
所述隱藏層以徑向基函數作為基底函數,所述隱藏層與所述輸出層全連接;
所述輸出層基于累加函數輸出所述徑向基函數網絡的輸出結果。
3.根據權利要求1所述的圖像重建方法,其特征在于,所述基于所述待重建圖像與所述樣本圖像訓練徑向基函數網絡包括:
初始化所述徑向基函數網絡的結構參數與損失函數。
4.根據權利要求3所述的圖像重建方法,其特征在于,所述基于所述待重建圖像與所述樣本圖像訓練徑向基函數網絡還包括:
對所述徑向基函數網絡的結構參數進行優化,直至將所述樣本圖像作為所述徑向基函數網絡的輸入后,所述徑向基函數網絡的輸出結果對應的所述損失函數收斂至預設的數值。
5.根據權利要求1所述的圖像重建方法,其特征在于,所述徑向基函數網絡用于模擬所述目標拍攝設備對應的點擴散函數模型。
6.根據權利要求3所述的圖像重建方法,其特征在于,所述損失函數包括二范數。
7.根據權利要求3所述的圖像重建方法,其特征在于,對所述徑向基函數網絡進行優化使用的優化算法包括梯度下降算法。
8.根據權利要求1所述的圖像重建方法,其特征在于,所述反卷積算法包括Weiner反卷積算法。
9.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質存儲有至少一個指令,所述至少一個指令被處理器執行時實現如權利要求1至8中任意一項所述的圖像重建方法。
10.一種電子設備,其特征在于,該電子設備包括存儲器和至少一個處理器,所述存儲器中存儲有至少一個指令,所述至少一個指令被所述至少一個處理器執行時實現如權利要求1至8中任意一項所述的圖像重建方法。
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