[發明專利]太陽電池及其制備方法在審
| 申請號: | 202310132510.3 | 申請日: | 2023-02-08 |
| 公開(公告)號: | CN115995512A | 公開(公告)日: | 2023-04-21 |
| 發明(設計)人: | 韓宗諭;徐磊;王金 | 申請(專利權)人: | 通威太陽能(安徽)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/06 |
| 代理公司: | 華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 周孝湖 |
| 地址: | 230031 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽電池 及其 制備 方法 | ||
1.一種太陽電池的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
提供制絨后的單晶硅襯底;
在所述單晶硅襯底的正面和背面分別沉積第一本征非晶硅層和第二本征非晶硅層;
通過PECVD方法在所述第一本征非晶硅層上沉積n型摻雜非晶硅層;通過PECVD方法在所述第二本征非晶硅層上沉積p型摻雜非晶硅層;
通過PECVD方法在所述n型摻雜非晶硅層上沉積n型摻雜微晶硅層;通過PECVD方法在所述p型摻雜非晶硅層上沉積p型摻雜微晶硅層;沉積所述n型摻雜微晶硅層和所述p型摻雜微晶硅層的氣體壓力為3Torr~5Torr,工藝氣體中SiH4、摻雜氣體和H2的流量比為1:(1~1.5):(150~200),啟輝功率為2000W~3500W,啟輝時間為100s~230s;
利用堿溶液對所述n型摻雜微晶硅層和所述p型摻雜微晶硅層進行堿拋;
在堿拋后的所述n型摻雜微晶硅層和所述p型摻雜微晶硅層上分別沉積透明導電薄膜;
在所述透明導電薄膜上制備電極。
2.根據權利要求1所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,所述制備方法滿足以下(1)~(2)中的至少一項:
(1)所述堿溶液為質量分數0.5%~1.2%的堿金屬氫氧化物溶液;
(2)所述堿拋的溫度為45℃~60℃。
3.根據權利要求1所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,在所述堿拋之前,所述n型摻雜微晶硅層的厚度為100nm~150nm,所述p型摻雜微晶硅層的厚度為100nm~150nm。
4.根據權利要求1所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,在所述堿拋之后,所述n型摻雜微晶硅層的厚度為40nm~70nm,所述p型摻雜微晶硅層的厚度為40nm~70nm。
5.根據權利要求1所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,沉積所述n型摻雜非晶硅層和所述p型摻雜非晶硅層的氣體壓力為0.50Torr~0.57Torr,工藝氣體中SiH4、摻雜氣體和H2流量比為1:(0.25~1):(1~1.5),啟輝功率為200W~800W,啟輝時間為20s~35s。
6.根據權利要求1所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,所述n型摻雜非晶硅層的厚度為3nm~8nm,所述p型摻雜非晶硅層的厚度為3nm~8nm。
7.根據權利要求1至6任一項所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,在所述堿拋之后,且在沉積所述透明導電薄膜之前,還包括利用含有雙氧水的酸溶液對所述n型摻雜微晶硅層和所述p型摻雜微晶硅層進行清洗的步驟。
8.根據權利要求7所述的太陽電池的制備方法,其特征在于,在利用含有雙氧水的酸溶液進行清洗之后,且在沉積所述透明導電薄膜之前,還包括利用氫氟酸對所述n型摻雜微晶硅層和所述p型摻雜微晶硅層進行鈍化的步驟。
9.一種太陽電池,其特征在于,所述太陽電池由權利要求1至8中任一項所述的太陽電池的制備方法制得。
10.根據權利要求9所述的太陽電池,其特征在于,包括單晶硅襯底、第一本征非晶硅層、第二本征非晶硅層、n型摻雜非晶硅層、p型摻雜非晶硅層、n型摻雜微晶硅層、p型摻雜微晶硅層、第一透明導電薄膜、第二透明導電薄膜、第一電極和第二電極;
所述第一本征非晶硅層、所述n型摻雜非晶硅層、所述n型摻雜微晶硅層、所述第一透明導電薄膜和所述第一電極依次層疊設置于所述單晶硅襯底的正面;
所述第二本征非晶硅層、所述p型摻雜非晶硅層、所述p型摻雜微晶硅層、所述第二透明導電薄膜和所述第二電極依次層疊設置于所述單晶硅襯底的背面。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于通威太陽能(安徽)有限公司,未經通威太陽能(安徽)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310132510.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





