[發(fā)明專利]電子元器件測試溫度控制方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310083859.2 | 申請日: | 2023-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN115793743B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐瀚宗;張琦杰;葉增豪;邱國志 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州長川科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G05D23/20 | 分類號: | G05D23/20 |
| 代理公司: | 上海港慧專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31402 | 代理人: | 郭嘉瑩 |
| 地址: | 310000 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子元器件 測試 溫度 控制 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種電子元器件測試溫度控制方法,其特征在于,包括步驟:
根據(jù)風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速和閥口(115)的預(yù)設(shè)開度獲取標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值;
獲取連通于所述風(fēng)機(20)的出風(fēng)口(21)與測試區(qū)(111)的入風(fēng)端(116)之間的連通風(fēng)道內(nèi)的當(dāng)前風(fēng)壓值;
根據(jù)所述當(dāng)前風(fēng)壓值與所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值之間的關(guān)系,調(diào)節(jié)所述風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速,以與所述閥口(115)的當(dāng)前開度相適配,控制位于所述測試區(qū)(111)的測試單元(113)中的電子元器件的溫度處于預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi);
其中,每個所述測試單元(113)對應(yīng)設(shè)有一個閥口(115),所述閥口(115)為氣流經(jīng)所述風(fēng)機(20)的出風(fēng)口(21)流向位于所述測試單元(113)中電子元器件的入風(fēng)口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件測試溫度控制方法,其特征在于,所述根據(jù)所述當(dāng)前風(fēng)壓值與所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值之間的關(guān)系,調(diào)節(jié)所述風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速包括步驟:
當(dāng)所述當(dāng)前風(fēng)壓值大于等于所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值時,在所述風(fēng)機(20)的所述當(dāng)前轉(zhuǎn)速的基礎(chǔ)上降低第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件測試溫度控制方法,其特征在于,所述根據(jù)所述當(dāng)前風(fēng)壓值與所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值之間的關(guān)系,調(diào)節(jié)所述風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速包括步驟:
當(dāng)所述當(dāng)前風(fēng)壓值小于所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值時,獲取所述測試區(qū)(111)的入風(fēng)端(116)的溫度與出風(fēng)端(117)的溫度;
計算所述出風(fēng)端(117)的溫度減去所述入風(fēng)端(116)的溫度,得到溫度差;
根據(jù)所述溫度差與預(yù)設(shè)溫差的關(guān)系,調(diào)節(jié)所述風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元器件測試溫度控制方法,其特征在于,所述根據(jù)所述溫度差與預(yù)設(shè)溫差的關(guān)系,調(diào)節(jié)所述風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速包括步驟:
當(dāng)所述溫度差小于等于預(yù)設(shè)溫差時,保持所述風(fēng)機(20)的所述當(dāng)前轉(zhuǎn)速不變;當(dāng)所述溫度差大于所述預(yù)設(shè)溫差時,在所述風(fēng)機(20)的所述當(dāng)前轉(zhuǎn)速的基礎(chǔ)上增加第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件測試溫度控制方法,其特征在于,所述閥口(115)的當(dāng)前開度與位于所述測試區(qū)(111)的電子元器件的溫度相關(guān)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件測試溫度控制方法,其特征在于,在根據(jù)風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速和閥口(115)的預(yù)設(shè)開度獲取標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值之前還包括步驟:
根據(jù)風(fēng)機(20)的轉(zhuǎn)速、測試區(qū)(111)的閥口(115)的開度與標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值的對應(yīng)關(guān)系,設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值表;所述對應(yīng)關(guān)系為:在所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值表中,當(dāng)所述轉(zhuǎn)速和所述開度其中一者不變時,另一者與所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值一一對應(yīng);
所述根據(jù)風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速和閥口(115)的預(yù)設(shè)開度獲取標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值包括步驟:
根據(jù)所述風(fēng)機(20)的當(dāng)前轉(zhuǎn)速和所述預(yù)設(shè)開度,從所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值表中獲取所述標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)壓值。
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