[發明專利]目標檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質有效
| 申請號: | 202310080216.2 | 申請日: | 2023-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN115797455B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發明(設計)人: | 葉曉青 | 申請(專利權)人: | 北京百度網訊科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/73 | 分類號: | G06T7/73;G06V10/48;G06V10/80 |
| 代理公司: | 北京市漢坤律師事務所 11602 | 代理人: | 姜浩然;吳麗麗 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 目標 檢測 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種目標檢測方法,包括:
獲得從目標對象所在的位置針對所述目標對象所在的目標空間拍攝的多個圖像,所述多個圖像對應于多個視角,所述目標空間包括多個位置;
通過前向映射將所述多個圖像中的每一個圖像的圖像特征映射到所述多個位置中的對應位置,以獲得所述多個位置中的每一個位置的第一空間特征;
通過后向投影將所述多個位置中的每一個位置投影到所述多個圖像中的相應圖像上并提取該相應圖像中的相應特征,以獲得該位置的第二空間特征;以及
基于所述多個位置中的每一個位置的第一空間特征和第二空間特征,獲得所述目標空間的目標檢測結果,所述目標檢測結果指示位于所述目標空間中的目標實例;
其中,所述通過前向映射將所述多個圖像中的每一個圖像的圖像特征映射到所述多個位置中的對應位置,以獲得所述多個位置中的每一個位置的第一空間特征包括:
針對所述多個圖像中的每一個圖像,
獲得該圖像的圖像特征,
獲得該圖像上的每一個像素沿該圖像所對應的視角方向上的多個深度中的每一個深度的分布概率,以及
基于該圖像上的每一個像素沿所述多個深度中的每一個深度的分布概率和該圖像的圖像特征,獲得所述多個位置中的每一個位置對應于該圖像的第一空間子特征;以及
針對所述多個位置中的每一個位置,基于該位置對應于所述多個圖像的多個第一空間子特征,獲得該位置的第一空間特征。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述通過后向投影將所述多個位置中的每一個位置投影到所述多個圖像中的相應圖像上并提取該相應圖像中的相應特征,以獲得該位置的第二空間特征包括:
獲得所述多個圖像中的每一個圖像的相機位姿;
針對所述多個位置中的每一個位置,
基于所述多個圖像中的每一個圖像的相機位姿對該位置進行投影,
響應于確定該圖像中具有與該位置相應的投影位置,確定該圖像為該位置的相應圖像,并且
提取該相應圖像中與該投影位置相應的特征,以作為該位置對應于該圖像的第二空間子特征;以及
針對所述多個位置中的每一個位置,響應于獲得該位置對應于所述多個圖像中的一個或多個相應圖像的一個或多個第二空間子特征,基于該一個或多個空間子特征,獲得該位置的第二空間特征。
3.根據權利要求2所述的方法,其中,針對所述多個位置中的每一個位置,該位置的第二空間特征為該位置所對應的一個或多個第二空間子特征的均值。
4.根據權利要求1所述的方法,其中,所述基于所述多個位置中的每一個位置的第一空間特征和第二空間特征,獲得所述目標空間的目標檢測結果包括:
基于所述多個位置中的每一個位置的第一空間特征,獲得第一鳥瞰圖特征,所述第一鳥瞰圖特征包括所述多個位置中的多個第一位置中的每一個第一位置的第一特征,所述多個第一位置位于所述目標對象所在的水平面上,該第一特征是基于所述多個位置中的多個第二位置的多個第一空間特征獲得的,所述多個第二位置位于該第一位置所在的豎直方向上;
基于所述多個位置中的每一個位置的第二空間特征,獲得第二鳥瞰圖特征,所述第二鳥瞰圖特征包括所述多個第一位置中的每一個第一位置的第二特征,所述第二特征是基于所述多個第二位置的多個第二空間特征獲得的;以及
基于所述第一鳥瞰圖特征和所述第二鳥瞰圖特征,獲得所述目標檢測結果。
5.根據權利要求4所述的方法,其中,所述多個第一位置中的每一個第一位置的第一特征包括所述多個第二位置的多個第一空間特征的均值;或者
多個第一位置中的每一個第一位置的第二特征包括所述多個第二位置的多個第二空間特征的均值。
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