[發明專利]一種檢測物體表面粗糙度的數據處理系統

有效

• 申請號: 202310064539.2
• 申請日: 2023-02-06
• 公開（公告）號: CN115930850B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 代紅林
• 申請（專利權）人: 宜科（天津）電子有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;G06T7/62
• 代理公司: 北京鍾維聯合知識產權代理有限公司 11579
• 代理人: 郝姍姍

本發明提供了一種檢測物體表面粗糙度的數據處理系統，包括：檢測物體表面粗糙度機構、處理器和存儲有計算機程序的存儲器，所述檢測物體表面粗糙度機構包括：透鏡組件、目標發射器和目標發射器對應的若干個目標接收器，當計算機程序被處理器執行時，實現以下步驟：獲取目標接收器標識列表；獲取目標光斑面積列表；獲取目標粗糙度；可知，本發明，接收器生成完整的光斑，對光斑面積進行處理，有利于提高獲取待檢測物體粗糙度的精準度，同時，在對光斑面積進行處理的過程中，對光斑面積的所處區域進行劃分處理，可以判斷出待檢測物體的粗糙度是否一致，進而可以獲取待檢測物體粗糙度的變化狀態。

技術領域

本發明涉及光學測量設備技術領域，特別是涉及一種檢測物體表面粗糙度的數據處理系統。

背景技術

現有的利用激光測量物體表面粗糙度的方法，大多為：激光發射器發射激光光束，激光光束經過一個透鏡照射到物體表面，接收器接收經物體表面反射后的光束并發出信號，對接收器發出的信號進行處理，獲取物體表面粗糙度。

但上述方法也存在以下技術問題：

接收器接收經物體表面反射后的光束的過程中，光束不經過透鏡，直接反射到接收器上，存在接收器不能接收到全部光束的情況，導致接收器發出的信號不完整，獲取到的物體表面粗糙度的精準度較低；對于接收器發出的信號，不做進一步分析，統一進行處理，無法判斷出物體表面粗糙度是否發生變化。

發明內容

針對上述技術問題，本發明采用的技術方案為：

一種檢測物體表面粗糙度的數據處理系統，包括：檢測物體表面粗糙度機構、處理器和存儲有計算機程序的存儲器，其中，所述檢測物體表面粗糙度機構包括：透鏡組件、目標發射器和目標發射器對應的m個目標接收器，所述透鏡組件設置在所述目標發射器的發送端一側，所述目標發射器與處理器通信連接，所述處理器與每一所述目標接收器通信連接，當計算機程序被處理器執行時，實現以下步驟：

S100、獲取目標接收器ID列表A={A₁，A₂，……，A_i，……，A_m}，A_i為第i個目標接收器ID，i=1，2……m。

S200、獲取目標接收器對應的目標光斑面積列表B={B₁，B₂，……，B_i，……，B_m}，B_i=(B_i1，B_i2)，B_i1為A_i對應的第一目標光斑面積，B_i2為A_i對應的第二目標光斑面積，其中，第一目標光斑面積為目標光束經過待檢測物體表面反射至第一接收區域內的光斑面積，第二目標光斑面積為目標光束經過待檢測物體表面反射至第二接收區域內的光斑面積；光斑面積為接收器接收到待檢測物體表面反射出的光束生成的光斑對應的面積。

S300、根據B，獲取目標接收器對應的目標粗糙度D，其中，在S300步驟中包括如下步驟獲取D：

S301、當所有的B_i2均為Null時，獲取第一中間光斑面積列表C={C₁，C₂，……，C_i，……，C_m}，將B_i1作為C_i。

S303、根據C，獲取D，其中，D符合如下條件：

D=α₁×(∑^m_i=1C_i/m)+β₁，其中，α₁為用于獲取目標粗糙度的第一預設權重，β₁為用于獲取目標粗糙度的第二預設權重。