[發明專利]一種檢測物體表面粗糙度的數據處理系統有效
| 申請號: | 202310064539.2 | 申請日: | 2023-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN115930850B | 公開(公告)日: | 2023-05-30 |
| 發明(設計)人: | 代紅林 | 申請(專利權)人: | 宜科(天津)電子有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/30 | 分類號: | G01B11/30;G06T7/62 |
| 代理公司: | 北京鍾維聯合知識產權代理有限公司 11579 | 代理人: | 郝姍姍 |
| 地址: | 300385 天津市*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 物體 表面 粗糙 數據處理系統 | ||
1.一種檢測物體表面粗糙度的數據處理系統,其特征在于,所述系統包括:檢測物體表面粗糙度機構、處理器和存儲有計算機程序的存儲器,其中,所述檢測物體表面粗糙度機構包括:透鏡組件、目標發射器和目標發射器對應的m個目標接收器,所述透鏡組件設置在所述目標發射器的發送端一側,所述目標發射器與處理器通信連接,所述處理器與每一所述目標接收器通信連接,當所述計算機程序被所述處理器執行時,實現以下步驟:
S100、獲取目標接收器ID列表A={A1,A2,……,Ai,……,Am},Ai為第i個目標接收器ID,i=1,2……m;
S200、獲取目標接收器對應的目標光斑面積列表B={B1,B2,……,Bi,……,Bm},Bi=(Bi1,Bi2),Bi1為Ai對應的第一目標光斑面積,Bi2為Ai對應的第二目標光斑面積,其中,所述第一目標光斑面積為目標光束經過待檢測物體表面反射至第一接收區域內的光斑面積,所述第二目標光斑面積為目標光束經過待檢測物體表面反射至第二接收區域內的光斑面積;所述光斑面積為接收器接收到待檢測物體表面反射出的光束生成的光斑對應的面積;
S300、根據B,獲取目標接收器對應的目標粗糙度D,其中,在S300步驟中包括如下步驟獲取D:
S301、當所有的Bi2均為Null時,獲取第一中間光斑面積列表C={C1,C2,……,Ci,……,Cm},將Bi1作為Ci,其中,所述Null為空值;
S303、根據C,獲取D,其中,D符合如下條件:
D=α1×(∑mi=1Ci/m)+β1,其中,α1為用于獲取目標粗糙度的第一預設權重,β1為用于獲取目標粗糙度的第二預設權重;
S305、當所有的Bi1均為Null時,獲取第二中間光斑面積列表C0={C01,C02,……,C0i,……,C0m},將Bi2作為C0i;
S307、根據C0,獲取D;
S309、當任一Bi2不為Null時且除Bi1之外的其他任一第一目標光斑面積也不為Null時,獲取D={D1,D2},其中,D1為第一目標粗糙度,D2為第二目標粗糙度,在S309步驟中包括如下步驟:
S3091、當任一Bi2不為Null時且除Bi1之外的其他任一第一目標光斑面積也不為Null時,獲取第三中間光斑面積列表H={H1,H2,……,Hj,……,Hn}和第四中間光斑面積列表H0={H01,H02,……,H0t,……,H0k},Hj為第j個第三中間光斑面積,j=1,2……n,n為第三中間光斑面積數量,H0t為第t個第四中間光斑面積,t=1,2……k,k為第四中間光斑面積數量,其中,第三中間光斑面積為目標光斑面積中不為Null的第一目標光斑面積,第四中間光斑面積為目標光斑面積中不為Null的第二目標光斑面積;
S3093、根據H,獲取D1,D1符合如下條件:
D1=α1×(∑nj=1Hj/n)+β1;
S3095、根據H0,獲取D2,D2符合如下條件:
D2=α2×(∑kt=1H0t/k)+β2,其中,α2為用于獲取目標粗糙度的第三預設權重,β2為用于獲取目標粗糙度的第四預設權重。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于宜科(天津)電子有限公司,未經宜科(天津)電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310064539.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種緊固件滾壓設備及滾壓方法
- 下一篇:一種自動門窗電機供電系統及供電方法





