[發(fā)明專利]一種藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件及共源共柵結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310052768.2 | 申請(qǐng)日: | 2023-02-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115863425A | 公開(公告)日: | 2023-03-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋亮;朱廷剛;李亦衡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇能華微電子科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/778 | 分類號(hào): | H01L29/778;H01L29/10;H01L23/367;H01L23/373 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 王愛濤 |
| 地址: | 215600 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 藍(lán)寶石 襯底 gan hemt 器件 共源共柵 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明公開一種藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件及共源共柵結(jié)構(gòu),涉及GaN HEMT器件技術(shù)領(lǐng)域,所述藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件,包括:由上向下依次設(shè)置的藍(lán)寶石襯底、GaN HEMT層和電極層;所述電極層包括源極、柵極和漏極。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)GaN HEMT器件的高效散熱。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及GaN HEMT器件技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件及共源共柵結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
在GaN HEMT功率開關(guān)器件的襯底選擇上,目前主要有四種方案包括:1.藍(lán)寶石襯底、2.硅襯底、3.碳化硅(SiC)襯底和4.GaN自支撐襯底,其中,SiC襯底與GaN襯底外延GaN結(jié)構(gòu)位錯(cuò)少、外延質(zhì)量高,同時(shí)襯底散熱性能性能強(qiáng),但是高昂的成本制約其工業(yè)生產(chǎn)及應(yīng)用。目前產(chǎn)業(yè)界主要使用藍(lán)寶石襯底和硅襯底,Si作為GaN材料的襯底具有成本低、導(dǎo)熱性能較為良好、工藝成熟等優(yōu)勢(shì),同時(shí)又可以與Si基器件生產(chǎn)線共用,在工業(yè)界具有非常大的潛力,但是Si材料與GaN材料之間晶格失配等問題會(huì)造成外延過程中具有非常大的應(yīng)力,同時(shí)位錯(cuò)密度相對(duì)較高,因此在900V以下的GaN功率器件占據(jù)主導(dǎo)地位。藍(lán)寶石襯底上外延GaN材料具有較高的結(jié)晶質(zhì)量,同時(shí)藍(lán)寶石襯底成本較低,適合大規(guī)模工業(yè)化生產(chǎn),同時(shí)藍(lán)寶石是絕緣體,不同于硅襯底,藍(lán)寶石襯底上GaN功率器件可以做更高壓器件,因此藍(lán)寶石襯底在900V以上的GaN功率器件有得天獨(dú)厚的優(yōu)勢(shì),但是藍(lán)寶石襯底導(dǎo)熱性差,不能充分發(fā)揮GaN導(dǎo)熱性的優(yōu)勢(shì)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件及共源共柵結(jié)構(gòu),可實(shí)現(xiàn)GaN HEMT器件的高效散熱。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了如下方案:
一種藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件,包括:
由上向下依次設(shè)置的藍(lán)寶石襯底、GaN HEMT層和電極層;所述電極層包括源極、柵極和漏極。
一種藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件的共源共柵結(jié)構(gòu),包括:框架散熱基板、設(shè)置在所述框架散熱基板上的AlN陶瓷片以及均設(shè)置在所述AlN陶瓷片上的Si MOS和上述所述的藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件。
可選的,所述AlN陶瓷片的數(shù)量為兩個(gè),所述Si MOS設(shè)置在第一個(gè)AlN陶瓷片上,所述藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件設(shè)置在第二個(gè)AlN陶瓷片上,所述AlN陶瓷片焊在所述框架散熱基板上。
可選的,所述藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件與所述AlN陶瓷片上的金屬圖形連接,所述金屬圖形為通過濺射方式進(jìn)行金屬圖形化生成的。
可選的,所述Si MOS通過銀漿、錫膏或?qū)崮z的方式焊在所述AlN陶瓷片上。
可選的,所述藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件的電極層與所述AlN陶瓷片上的金屬圖形連接。
可選的,所述藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件的電極層通過植球的方式與所述AlN陶瓷片上的金屬圖形連接。
根據(jù)本發(fā)明提供的具體實(shí)施例,本發(fā)明公開了以下技術(shù)效果:本發(fā)明的藍(lán)寶石襯底的GaN HEMT器件采用倒裝結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)GaN HEMT器件的高效散熱。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為GaN HEMT器件結(jié)構(gòu)的俯視圖;
圖2為GaN HEMT器件結(jié)構(gòu)的左視圖;
圖3為GaN HEMT器件結(jié)構(gòu)的右視圖;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





