[發明專利]一種半導體芯片測試座輔助清潔治具

在審

• 申請號: 202310040617.5
• 申請日: 2023-01-13
• 公開（公告）號: CN116020835A
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 鄭澤彬
• 申請（專利權）人: 沛頓科技（深圳）有限公司
• 主分類號: B08B13/00
• 分類號: B08B13/00;G01R1/04
• 代理公司: 東莞市中正知識產權事務所(普通合伙) 44231
• 代理人: 徐康

本發明涉及測試座清潔技術領域，具體為一種半導體芯片測試座輔助清潔治具，包括基板和下壓塊，所述下壓塊與基板的表面固定連接，所述基板的下表面固定連接有模塊，所述下壓塊的數量為兩個，兩個所述下壓塊間呈鏡像設置，所述模塊的數量為兩個，兩個所述模塊間呈鏡像設置，所述模塊的內壁開設有清潔孔，所述清潔孔的橫截面呈矩形。本發明，簡化測試座的清理難度，確保測試座的穩定使用，降低測試過程中出現故障的情況，便于清潔治具的普及使用，同時本方案成對清理，降低對另一個測試座的影響，確保測試座的正常使用。

技術領域

本發明涉及測試座清潔技術領域，尤其涉及一種半導體芯片測試座輔助清潔治具。

背景技術

隨著現代電子產品的飛速發展，電子芯片作為其重要的組成核心，在生產與加工的過程中，對質量的檢測管控越發的嚴格，在半導體芯片大規模研發及生產過程中均需要各類性能檢測，芯片測試座在封測環節起到關鍵性作用，測試座功能是將芯片定位后通過線路板之間電子信號電流傳輸從而達到檢驗測試效果，因此對測試座進行輔助清潔尤為重要。

現有技術諸如公開號為CN102253511B的發明，該專利公開了一種面板測試治具，包括：底座、承載于底座上的背光模塊、兩導引構件、樞接至底座的上蓋、兩拉桿及清潔桿。導引構件分別平行地設置于底座上，且背光模塊位于導引構件之間。每一拉桿具有第一端以及第二端。第一端樞接至上蓋。第二端可滑動地連接至對應的導引構件。清潔桿連接于第二端之間，并接觸背光模塊的上表面。在上蓋相對底座開啟或閉合期間，每一拉桿受上蓋帶動而同時相對上蓋與底座轉動，致使第二端相對對應的導引構件滑動，并帶動清潔桿往復地擦拭上表面。采用本發明，可在操作面板測試治具的同時清潔面板測試治具的背光模塊，并有效地達到減少額外的人力浪費以及提高清潔效果的功效。

現有半導體芯片測試設備都會配備芯片測試座，芯片測試座使用到一定次數之后，PIN針因為長期接觸芯片錫球而導致粘附錫渣，會影響測試結果，故需要對測試座進行清潔，HT3309為臺灣鴻勁生產的一款Flash芯片測試機械臂，其配備的芯片測試座為IC成對放置，清潔時容易對另一個造成影響；測試座上的彈簧板用手指直接下壓容易受力不均，PIN針不好全部露出，不好清潔，對此需進行改進。

發明內容

本發明的目的是為了解決現有技術中存在清潔時容易對另一個造成影響；測試座上的彈簧板用手指直接下壓容易受力不均，PIN針不好全部露出，不好清潔的缺點，而提出的一種半導體芯片測試座輔助清潔治具。

為了實現上述目的，本發明采用了如下技術方案：一種半導體芯片測試座輔助清潔治具，包括基板和下壓塊，所述下壓塊與基板的表面固定連接，所述基板的下表面固定連接有模塊，簡化測試座的清理難度，確保測試座的穩定使用，降低測試過程中出現故障的情況，便于清潔治具的普及使用，同時本方案成對清理，降低對另一個測試座的影響，確保測試座的正常使用。

優選的，所述下壓塊的數量為兩個，兩個所述下壓塊間呈鏡像設置。

優選的，所述模塊的數量為兩個，兩個所述模塊間呈鏡像設置。

優選的，所述模塊的內壁開設有清潔孔，所述清潔孔的橫截面呈矩形。

優選的，所述模塊的內壁均開設有倒角開口，所述倒角開口與清潔孔相連通，清潔使用時，可準確穩固地將設備置于芯片測試座上，模塊受力均勻地將彈簧板下壓，將PIN針全部完好露出，清潔孔配合30°的倒角開口具有更大的操作空間和更好的視野，進而更高效的進行測試座的清潔。

優選的，所述基板的表面設置有圓角，提高治具美觀度的同時可避免刮傷手指。

優選的，所述模塊遠離基板的一端固定連接有定位凸塊，所述定位凸塊的數量為四個，四個所述定位凸塊間呈環形設置，便于對輔助設備進行使用。

與現有技術相比，本發明的優點和積極效果在于：