[發明專利]校準方法及裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202310027814.3
• 申請日: 2023-01-09
• 公開（公告）號: CN115937262A
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 謝衛國;歐陽挺;張旭
• 申請（專利權）人: 深圳惟德精準醫療科技有限公司
• 主分類號: G06T7/246
• 分類號: G06T7/246;G06T7/10
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 李珊珊

本申請公開了一種校準方法及裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。該方法包括：獲取成像設備的第一軌跡和目標圖像序列，所述目標圖像序列為所述成像設備在按所述第一軌跡運動的過程中對參照物進行拍攝得到的圖像序列；根據所述參照物在所述目標圖像序列中的位置，得到所述參照物在所述目標圖像序列中的第二軌跡；通過將所述第一軌跡與所述第二軌跡對齊，得到所述成像設備的成像延遲時間。

技術領域

本申請涉及圖像處理技術領域，尤其涉及一種校準方法及裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

目前的成像設備通常均有成像延遲的特性，具體而言，從成像設備開始采集圖像到生成圖像之間具有時間差，也就是說，成像設備采集到的圖像的時間戳與成像設備開始采集圖像的時間不一致。基于成像設備的成像延遲時間，可將圖像的時間戳校正為成像設備開始采集圖像的時間，因此如何確定成像設備的成像延遲時間具有非常重要的意義。

發明內容

本申請提供一種校準方法及裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。

第一方面，提供了一種校準方法，所述方法包括：

獲取成像設備的第一軌跡和目標圖像序列，所述目標圖像序列為所述成像設備在按所述第一軌跡運動的過程中對參照物進行拍攝得到的圖像序列；

根據所述參照物在所述目標圖像序列中的位置，得到所述參照物在所述目標圖像序列中的第二軌跡；

通過將所述第一軌跡與所述第二軌跡對齊，得到所述成像設備的成像延遲時間。

結合本申請任一實施方式，所述通過將所述第一軌跡與所述第二軌跡對齊，得到所述成像設備的成像延遲時間，包括：

在通過將所述第一軌跡在沿時間軸移動目標時間對齊所述第二軌跡的情況下，確定所述成像設備的成像延遲時間為所述目標時間。

結合本申請任一實施方式，所述通過將所述第一軌跡與所述第二軌跡對齊，得到所述成像設備的成像延遲時間，包括：

獲取候選延遲時間；

將所述第一軌跡的軌跡點的時間戳加上所述候選延遲時間，得到第三軌跡；

在所述第二軌跡與所述第三軌跡對齊的情況下，確定所述成像設備的成像延遲時間為所述候選延遲時間。

結合本申請任一實施方式，所述在所述第二軌跡與所述第三軌跡對齊的情況下，確定所述成像設備的成像延遲時間為所述候選延遲時間之前，所述方法還包括：

在所述第二軌跡與所述第三軌跡的差異小于或等于第一閾值的情況下，確定所述第二軌跡與所述第三軌跡對齊。

結合本申請任一實施方式，所述第二軌跡包括第一拐點，所述第二軌跡中除所述第一拐點之外的軌跡點為第一非拐點，所述第三軌跡包括第二拐點，所述第三軌跡中除所述第二拐點之外的軌跡點為第二非拐點；

所述在所述第二軌跡與所述第三軌跡對齊的情況下，確定所述成像設備的成像延遲時間為所述候選延遲時間之前，所述方法還包括：

在所述第一拐點與所述第二拐點的差異小于或等于第二閾值，且所述第一非拐點與所述第二非拐點的差異小于或等于第三閾值的情況下，確定所述第二軌跡與所述第三軌跡對齊，所述第二閾值小于所述第三閾值。

結合本申請任一實施方式，在所述根據所述參照物在所述目標圖像序列中的位置，得到所述參照物在所述圖像序列中的第二軌跡之前，所述方法還包括：

對所述目標圖像序列中的圖像進行分割處理，得到所述目標圖像序列的分割結果序列；

根據所述分割結果序列，確定所述參照物在所述目標圖像序列中的位置。