[實(shí)用新型]一種用于芯片老化測(cè)試用治具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202223312637.3
• 申請(qǐng)日: 2022-12-09
• 公開（公告）號(hào): CN219161862U
• 公開（公告）日: 2023-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 盧世雄
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市賓德寶電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N3/12
• 分類號(hào): G01N3/12;G01N3/04
• 代理公司: 深圳市遠(yuǎn)航專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44276
• 代理人: 田志遠(yuǎn);張朝陽(yáng)

1.一種用于芯片老化測(cè)試用治具，包括治具底座（1）和安裝在治具底座（1）頂端表面的治具支架（2），其特征在于：所述治具底座（1）的頂端表面安裝有芯片限位機(jī)構(gòu)，所述芯片限位機(jī)構(gòu)用于將芯片固定在治具底座（1）上便于進(jìn)行抗壓測(cè)試，所述治具支架（2）的外側(cè)表面安裝有測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)用于對(duì)固定在治具底座（1）上的芯片進(jìn)行抗壓測(cè)試，所述治具支架（2）的外側(cè)表面安裝有擋位機(jī)構(gòu)，所述擋位機(jī)構(gòu)用于固定限位測(cè)試機(jī)構(gòu)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于芯片老化測(cè)試用治具，其特征在于：所述芯片限位機(jī)構(gòu)包括測(cè)試板（3）和限位組件，所述測(cè)試板（3）安裝在治具底座（1）的頂端表面，所述限位組件安裝在鄰近測(cè)試板（3）外側(cè)的治具底座（1）頂端表面。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于芯片老化測(cè)試用治具，其特征在于：所述限位組件包括翻轉(zhuǎn)軸（4）和限位框架（5），所述翻轉(zhuǎn)軸（4）活動(dòng)安裝在鄰近測(cè)試板（3）外側(cè)的治具底座（1）頂端表面，所述限位框架（5）安裝在翻轉(zhuǎn)軸（4）的外側(cè)表面，所述限位框架（5）的內(nèi)部安裝有彈性膜（6），所述限位框架（5）的一側(cè)表面安裝有第一磁塊（7），所述治具底座（1）頂端表面安裝有第二磁塊（8）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于芯片老化測(cè)試用治具，其特征在于：所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括驅(qū)動(dòng)氣缸（9）和測(cè)試組件，所述驅(qū)動(dòng)氣缸（9）安裝治具支架（2）的頂端表面，所述驅(qū)動(dòng)氣缸（9）的輸出端安裝有驅(qū)動(dòng)主軸（10），所述驅(qū)動(dòng)主軸（10）的末端表面延伸至治具支架（2）的下方，所述測(cè)試組件安裝在驅(qū)動(dòng)主軸（10）的末端表面。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于芯片老化測(cè)試用治具，其特征在于：所述測(cè)試組件包括驅(qū)動(dòng)主板（11）和測(cè)試壓板（12），所述驅(qū)動(dòng)主板（11）安裝在驅(qū)動(dòng)主軸（10）的末端表面，所述測(cè)試壓板（12）安裝在驅(qū)動(dòng)主板（11）的底端表面，所述治具支架（2）的外側(cè)表面安裝有紅外光柵（13），所述驅(qū)動(dòng)氣缸（9）一側(cè)的治具支架（2）頂端表面安裝有控制器（14），所述紅外光柵（13）電性連接至控制器（14），所述控制器（14）電性連接至驅(qū)動(dòng)氣缸（9）。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于芯片老化測(cè)試用治具，其特征在于：所述擋位機(jī)構(gòu)包括活動(dòng)套筒（15）和連接組件，兩個(gè)所述活動(dòng)套筒（15）活動(dòng)安裝在治具支架（2）的外側(cè)表面，所述連接組件安裝在兩個(gè)活動(dòng)套筒（15）之間。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于芯片老化測(cè)試用治具，其特征在于：所述連接組件包括固定螺釘（18）和連接軸（16），所述連接軸（16）安裝在活動(dòng)安裝在任一活動(dòng)套筒（15）的一側(cè)表面，另一所述活動(dòng)套筒（15）安裝在連接軸（16）的外側(cè)表面，兩個(gè)所述活動(dòng)套筒（15）的另一側(cè)表面皆安裝有固定板（17），所述固定螺釘（18）安裝在兩個(gè)固定板（17）的內(nèi)部。