[實(shí)用新型]一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202223273192.2 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN219201679U | 公開(公告)日: | 2023-06-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 榮國(guó)青;韋瑋;歐陽文堅(jiān) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三公井精密科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 芯片 測(cè)試 基座 | ||
1.一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,包括基座本體(1),其特征在于:所述基座本體(1)一側(cè)頂部通過鉸軸(2)連接有蓋板(3),所述蓋板(3)內(nèi)部設(shè)有加熱腔(4),所述加熱腔(4)內(nèi)腔設(shè)有導(dǎo)熱油(5)與電加熱管(6),所述蓋板(3)底部固定設(shè)有金屬加熱板(7),所述基座本體(1)內(nèi)腔一側(cè)固定設(shè)有溫度傳感器(8),所述基座本體(1)內(nèi)腔底部開設(shè)有矩形凹槽(9),且所述矩形凹槽(9)底部設(shè)有導(dǎo)流斜坡,所述矩形凹槽(9)內(nèi)腔固定設(shè)有凸臺(tái)(10),所述凸臺(tái)(10)上開設(shè)有定位孔(11),所述基座本體(1)底部設(shè)有排屑口(12),所述基座本體(1)底部對(duì)稱固定設(shè)有固定支腿(13),所述基座本體(1)前側(cè)表面固定設(shè)有單片機(jī)控制器(14)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,其特征在于:所述固定支腿(13)包括L型支架(15),所述L型支架(15)上開設(shè)有固定孔(16)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,其特征在于:所述蓋板(3)一側(cè)頂部固定設(shè)有提拉把手(17)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,其特征在于:所述排屑口(12)底端設(shè)有連接法蘭(18),且所述排屑口(12)底部通過連接法蘭(18)連接有真空管,且真空管另一端連接真空泵。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,其特征在于:所述金屬加熱板(7)為銅板、鋁板中的任意一種,且所述金屬加熱板(7)底部等距固定設(shè)有加熱翅片(19)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,其特征在于:所述溫度傳感器(8)、單片機(jī)控制器(14)、電加熱管(6)之間通過導(dǎo)線連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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