[實(shí)用新型]一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202223273192.2 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN219201679U | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-06-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 榮國(guó)青;韋瑋;歐陽(yáng)文堅(jiān) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三公井精密科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 芯片 測(cè)試 基座 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,包括基座本體,所述基座本體一側(cè)頂部通過(guò)鉸軸連接有蓋板,所述蓋板內(nèi)部設(shè)有加熱腔,通過(guò)設(shè)置電加熱管,電加熱管可以對(duì)導(dǎo)熱油進(jìn)行加熱,導(dǎo)熱油可以通過(guò)金屬加熱板把熱量散熱出去對(duì)基座本體內(nèi)部進(jìn)行加熱,可以模擬不同的溫度環(huán)境,通過(guò)設(shè)置溫度傳感器,溫度傳感器可以對(duì)基座本體內(nèi)腔的溫度進(jìn)行檢測(cè),當(dāng)溫度傳感器檢測(cè)的溫度高于單片機(jī)控制器上設(shè)置的最高溫度時(shí),單片機(jī)控制器控制電加熱管停止進(jìn)行加熱,當(dāng)溫度傳感器檢測(cè)的溫度低于單片機(jī)控制器上設(shè)置的最低溫度時(shí),單片機(jī)控制器控制電加熱管開(kāi)啟進(jìn)行加熱,可以模擬不同的溫度環(huán)境,可以對(duì)不同溫度環(huán)境下的芯片進(jìn)行測(cè)試。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體來(lái)說(shuō),涉及一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座。
背景技術(shù)
晶圓是硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形故稱為晶圓,芯片是指內(nèi)含集成電路的硅片,體積很小常常是計(jì)算機(jī)或其他電子設(shè)備的一部分,晶圓是制作芯片最基礎(chǔ)的半導(dǎo)體材料,由晶圓制作完成的芯片,通過(guò)基座放置在機(jī)臺(tái)上,采用接觸按壓的方式對(duì)芯片進(jìn)行開(kāi)斷路測(cè)試和終端測(cè)試,經(jīng)檢測(cè)合格的芯片再進(jìn)行后續(xù)的封裝制程,保證封裝后芯片的良率。
申請(qǐng)?zhí)枮?01921705226.6的實(shí)用新型公開(kāi)了一種芯片測(cè)試用基座,包括:基座本體,基座本體的頂面上設(shè)有矩形凹槽,基座本體在矩形凹槽處設(shè)有兩個(gè)凸臺(tái),凸臺(tái)的頂端凸出于基座本體的頂面,凸臺(tái)的頂端的側(cè)面為斜面,凸臺(tái)的頂部設(shè)有定位孔,基座本體在矩形凹槽的四個(gè)內(nèi)角處設(shè)有真空管,真空管的頂端在矩形凹槽內(nèi)形成開(kāi)口,此實(shí)用新型的芯片測(cè)試用基座,芯片的兩端分別擱置在基座本體上的兩個(gè)凸臺(tái)上,從而防止了異物與芯片的接觸;且在矩形凹槽的四個(gè)內(nèi)角處設(shè)有與抽氣設(shè)備連接的真空管,通過(guò)抽氣設(shè)備將矩形凹槽內(nèi)的異物抽取,方便對(duì)基座本體的清理,可以保證后續(xù)芯片測(cè)試的順利進(jìn)行,但是此芯片測(cè)試用基座不能對(duì)芯片的測(cè)試溫度進(jìn)行調(diào)控,不能模擬不同的溫度環(huán)境,不能對(duì)不同溫度環(huán)境下的芯片進(jìn)行測(cè)試。
針對(duì)相關(guān)技術(shù)中的問(wèn)題,目前尚未提出有效的解決方案。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)相關(guān)技術(shù)中的問(wèn)題,本實(shí)用新型提出一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,以克服現(xiàn)有相關(guān)技術(shù)所存在的上述技術(shù)問(wèn)題。
為此,本實(shí)用新型采用的具體技術(shù)方案如下:
一種用于芯片測(cè)試的測(cè)試基座,包括基座本體,所述基座本體一側(cè)頂部通過(guò)鉸軸連接有蓋板,所述蓋板內(nèi)部設(shè)有加熱腔,所述加熱腔內(nèi)腔設(shè)有導(dǎo)熱油與電加熱管,所述蓋板底部固定設(shè)有金屬加熱板,所述基座本體內(nèi)腔一側(cè)固定設(shè)有溫度傳感器,所述基座本體內(nèi)腔底部開(kāi)設(shè)有矩形凹槽,且所述矩形凹槽底部設(shè)有導(dǎo)流斜坡,所述矩形凹槽內(nèi)腔固定設(shè)有凸臺(tái),所述凸臺(tái)上開(kāi)設(shè)有定位孔,所述基座本體底部設(shè)有排屑口,所述基座本體底部對(duì)稱固定設(shè)有固定支腿,所述基座本體前側(cè)表面固定設(shè)有單片機(jī)控制器。
作為優(yōu)選,所述固定支腿包括L型支架,所述L型支架上開(kāi)設(shè)有固定孔。
作為優(yōu)選,所述蓋板一側(cè)頂部固定設(shè)有提拉把手。
作為優(yōu)選,所述排屑口底端設(shè)有連接法蘭,且所述排屑口底部通過(guò)連接法蘭連接有真空管,且真空管另一端連接真空泵。
作為優(yōu)選,所述金屬加熱板為銅板、鋁板中的任意一種,且所述金屬加熱板底部等距固定設(shè)有加熱翅片。
作為優(yōu)選,所述溫度傳感器、單片機(jī)控制器、電加熱管之間通過(guò)導(dǎo)線連接。
本實(shí)用新型的有益效果為:1、通過(guò)設(shè)置電加熱管,電加熱管可以對(duì)導(dǎo)熱油進(jìn)行加熱,導(dǎo)熱油可以通過(guò)金屬加熱板把熱量散熱出去對(duì)基座本體內(nèi)部進(jìn)行加熱,可以模擬不同的溫度環(huán)境,通過(guò)設(shè)置溫度傳感器,溫度傳感器可以對(duì)基座本體內(nèi)腔的溫度進(jìn)行檢測(cè),當(dāng)溫度傳感器檢測(cè)的溫度高于單片機(jī)控制器上設(shè)置的最高溫度時(shí),單片機(jī)控制器控制電加熱管停止進(jìn)行加熱,當(dāng)溫度傳感器檢測(cè)的溫度低于單片機(jī)控制器上設(shè)置的最低溫度時(shí),單片機(jī)控制器控制電加熱管開(kāi)啟進(jìn)行加熱,可以模擬不同的溫度環(huán)境,可以對(duì)不同溫度環(huán)境下的芯片進(jìn)行測(cè)試;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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