[實用新型]一種電路老化試驗臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202222895289.0 | 申請日： | 2022-11-01 |
| 公開（公告）號： | CN218630030U | 公開（公告）日： | 2023-03-14 |
| 發(fā)明（設計）人： | 胡強;曾力;李峰 | 申請（專利權(quán)）人： | 成都圣芯集成電路有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳漢林匯融知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 44850 | 代理人： | 劉臨利 |
| 地址： | 611730 四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 電路 老化 試驗臺 | ||
1.一種電路老化試驗臺，包括試驗臺(1)，其特征在于：所述試驗臺(1)下端面四角均固定連接有支撐柱(2)，所述支撐柱(2)內(nèi)側(cè)固定連接有橫桿(3)，所述橫桿(3)內(nèi)側(cè)轉(zhuǎn)動連接有第一雙向螺紋桿(5)，所述支撐柱(2)內(nèi)側(cè)轉(zhuǎn)動連接有限位桿(4)，所述第一雙向螺紋桿(5)左側(cè)螺紋連接有第一螺紋塊(6)，所述第一螺紋塊(6)前后兩端均固定連接有連接桿(7)，所述連接桿(7)遠離第一雙向螺紋桿(5)的一端轉(zhuǎn)動連接有第一扶手(8)，所述第一扶手(8)前端面開設有限位孔(9)，所述限位桿(4)位于限位孔(9)內(nèi)部且與之滑動配合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路老化試驗臺，其特征在于：所述支撐柱(2)內(nèi)側(cè)轉(zhuǎn)動連接有第二雙向螺紋桿(13)，所述第二雙向螺紋桿(13)右側(cè)螺紋連接有第二螺紋塊(12)，所述第二螺紋塊(12)上端固定連接有第二扶手(11)，所述試驗臺(1)右側(cè)下端面開設有滑槽(10)，所述第二扶手(11)位于滑槽(10)內(nèi)部且與之滑動配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路老化試驗臺，其特征在于：四個所述支撐柱(2)內(nèi)側(cè)滑動連接有滑塊(16)，所述滑塊(16)下端固定連接有萬向輪(17)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電路老化試驗臺，其特征在于：所述第二雙向螺紋桿(13)左右兩側(cè)均螺紋連接有第三螺紋塊(14)，所述第三螺紋塊(14)下端均轉(zhuǎn)動連接有連桿(15)，所述連桿(15)遠離第三螺紋塊(14)的一端均與滑塊(16)上端轉(zhuǎn)動連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路老化試驗臺，其特征在于：所述第一雙向螺紋桿(5)與第二雙向螺紋桿(13)右側(cè)均通過鏈輪組(18)傳動連接，所述第一雙向螺紋桿(5)與第二雙向螺紋桿(13)螺紋方向相反。
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