[實用新型]一種電路老化試驗臺

有效

• 申請號: 202222895289.0
• 申請日: 2022-11-01
• 公開（公告）號: CN218630030U
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 胡強;曾力;李峰
• 申請（專利權）人: 成都圣芯集成電路有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳漢林匯融知識產權代理事務所(普通合伙) 44850
• 代理人: 劉臨利

本實用新型公開了一種電路老化試驗臺，包括試驗臺，試驗臺下端面四角均固定連接有支撐柱，支撐柱內側固定連接有橫桿，橫桿內側轉動連接有第一雙向螺紋桿，支撐柱內側轉動連接有限位桿，第一雙向螺紋桿左側螺紋連接有第一螺紋塊，第一螺紋塊前后兩端均固定連接有連接桿，本實用新型通過人員手動轉動第一雙向螺紋桿，第一雙向螺紋桿轉動帶動第一螺紋塊移動，通過連接桿帶動第一扶手移動，從而可將第一扶手從試驗臺內部展示出來，同時通過鏈輪帶動組第二雙向螺紋桿轉動，第二雙向螺紋桿帶動第二螺紋塊移動，從而帶動第二扶手移動，使得從試驗臺內部展示出來，通過第一扶手和第二扶手使得在搬運試驗臺時，便于人員對試驗臺受力，使得搬運更加便捷。

技術領域

本實用新型涉及電路元件測試技術領域，具體為一種電路老化試驗臺。

背景技術

隨著信息技術的迅猛發展，半導體集成電路成為戰略武器系統，航空航天電子設備，工業控制等科技領域的核心部件，集成電路的可靠性成為制約各行業硬件設施可靠性的關鍵因素，由于集成電路生產過程的工藝復雜，流程繁瑣，不可避免地會在生產過程中留下潛在的缺陷，而老化試驗就是排出缺陷之一。集成電路的老化過程實質上就是通過試驗臺對其施加高應力(熱應力、電應力等)，加速其內部潛在缺陷暴露的過程，經過老化試驗可以使有缺陷的集成電路在上機使用前失效，從而保證集成電路最終的使用可靠性。

但是目前試驗臺體積較為龐大，由于沒有很好的受力點，使得工人在運輸搬運過程中較為繁瑣，并且，整個試驗臺不便實現萬向輪的收縮和展出，導致人員對整個試驗臺進行移動時，較為費力。

實用新型內容

本實用新型的目的是為了解決現有技術中存在的缺點，解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種電路老化試驗臺，包括試驗臺，所述試驗臺下端面四角均固定連接有支撐柱，所述支撐柱內側固定連接有橫桿，所述橫桿內側轉動連接有第一雙向螺紋桿，所述支撐柱內側轉動連接有限位桿，所述第一雙向螺紋桿左側螺紋連接有第一螺紋塊，所述第一螺紋塊前后兩端均固定連接有連接桿，所述連接桿遠離第一雙向螺紋桿的一端轉動連接有第一扶手，所述第一扶手前端面開設有限位孔，所述限位桿位于限位孔內部且與之滑動配合。

優選的，所述支撐柱內側轉動連接有第二雙向螺紋桿，所述第二雙向螺紋桿右側螺紋連接有第二螺紋塊，所述第二螺紋塊上端固定連接有第二扶手，所述試驗臺右側下端面開設有滑槽，所述第二扶手位于滑槽內部且與之滑動配合。

優選的，四個所述支撐柱內側滑動連接有滑塊，所述滑塊下端固定連接有萬向輪。

優選的，所述第二雙向螺紋桿左右兩側均螺紋連接有第三螺紋塊，所述第三螺紋塊下端均轉動連接有連桿，所述連桿遠離第三螺紋塊的一端均與滑塊上端轉動連接。

優選的，所述第一雙向螺紋桿與第二雙向螺紋桿右側均通過鏈輪組傳動連接，所述第一雙向螺紋桿與第二雙向螺紋桿螺紋方向相反。

(三)有益效果

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1.本實用新型通過人員手動轉動第一雙向螺紋桿，第一雙向螺紋桿轉動帶動第一螺紋塊移動，通過連接桿帶動第一扶手移動，從而可將第一扶手從試驗臺內部展示出來，同時通過鏈輪帶動組第二雙向螺紋桿轉動，第二雙向螺紋桿帶動第二螺紋塊移動，從而帶動第二扶手移動，使得從試驗臺內部展示出來，通過第一扶手和第二扶手使得在搬運試驗臺時，便于人員對試驗臺受力，使得搬運更加便捷。

2.本實用新型通過人員手動轉動第一雙向螺紋桿，即可通過鏈輪組帶動第二雙向螺紋桿轉動，第二雙向螺紋桿帶動兩個第三螺紋塊不同向移動，通過連桿帶動滑塊在支撐柱內側滑動，使萬向輪靠近或遠離地面，即可對整個試驗臺進行移動，從而可對整個試驗臺進行移動或穩定放置，進而保證了整個試驗臺穩定性的同時，也可通過萬向輪進行移動，省力便捷。

附圖說明