[實用新型]一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室

有效

• 申請號: 202222779343.5
• 申請日: 2022-10-21
• 公開（公告）號: CN218727537U
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 李潤發;宋耀
• 申請（專利權）人: 東莞市力邦檢測服務有限公司
• 主分類號: G01R1/18
• 分類號: G01R1/18;H05K7/20
• 代理公司: 北京卓恒知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11394
• 代理人: 袁定田

本實用新型公開了一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，包括屏蔽箱，所述屏蔽箱的一側安裝有錐形通風口，所述錐形通風口一端的內側安裝有九個導風管，所述導風管的上端設有分散口，九個所述導風管上端的外側安裝有一個通風罩，所述屏蔽箱上端的內側安裝有連接套板，所述連接套板的一側固定安裝有三個圖像采集座，三個所述圖像采集座的外側安裝有一個透明屏蔽罩，所述屏蔽箱的上端面安裝有屏蔽蓋，所述屏蔽蓋中部的內側安裝有導電座，所述屏蔽蓋的上端面安裝有兩個接電端座，所述導電座的兩側與兩個接電端座通過十四個屏蔽管。本實用新型通過對屏蔽室進行接電和通風時保持屏蔽效果，提高屏蔽能力，且便于對測試過程進行記錄。

技術領域

本實用新型涉及屏蔽室技術領域，具體為一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室。

背景技術

屏蔽室由磁性材料制成，衡量材料導磁能力的參數是磁導率，磁導率越高，屏蔽效果越好，常見的普通高導磁材料是冷軋鋼板，而且屏蔽體厚度起決定作用，磁場強度越強，屏蔽材料厚度也要相應增加，屏蔽室原理是由屏蔽的電纜和屏蔽的元器件所組成的屏蔽系統將是最佳選擇，通過屏蔽室能夠對電子元件進行干擾與竊聽實驗，發散性試驗，誤碼率測試，抗干擾性測試實驗。

但是，現有的對屏蔽室在對電子元件進行測試過程中不便于實時監測，且在通風接電等操作時易造成屏蔽受損；因此，不滿足現有的需求，對此我們提出了一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，以解決上述背景技術中提出的現有的對屏蔽室在對電子元件進行測試過程中不便于實時監測，且在通風接電等操作時易造成屏蔽受損等問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，包括屏蔽箱，所述屏蔽箱的一側安裝有錐形通風口，所述錐形通風口一端的內側安裝有九個導風管，所述導風管的上端設有分散口，九個所述導風管上端的外側安裝有一個通風罩，所述屏蔽箱上端的內側安裝有連接套板，所述連接套板的一側固定安裝有三個圖像采集座，三個所述圖像采集座的外側安裝有一個透明屏蔽罩，所述屏蔽箱的上端面安裝有屏蔽蓋，所述屏蔽蓋中部的內側安裝有導電座，所述屏蔽蓋的上端面安裝有兩個接電端座，所述導電座的兩側與兩個接電端座通過十四個屏蔽管。

優選的，所述屏蔽箱包括外部反射層、第一屏蔽層、第二屏蔽層和內部反射層，所述外部反射層的內側安裝有第一屏蔽層，所述第一屏蔽層的內側安裝有第二屏蔽層，所述第二屏蔽層的內側安裝有內部反射層。

優選的，所述內部反射層與通風罩粘接固定，所述導風管的一端貫穿外部反射層、第一屏蔽層、第二屏蔽層和內部反射層延伸至通風罩的內側，所述導風管與錐形通風口的內部貫通連接。

優選的，所述屏蔽箱與屏蔽蓋通過密封墊連接，所述接電端座與屏蔽蓋通過螺釘連接固定，所述接電端座的上端面與導電座的下端面均設有接電插孔和數據傳輸孔。

優選的，所述屏蔽管的內側設有導線，所述導電座與接電端座通過導線連接。

優選的，所述透明屏蔽罩與連接套板卡接固定，所述圖像采集座與連接套板通過螺釘連接固定，所述圖像采集座的一端設有攝像頭。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1、本實用新型通過外部反射層和內部反射層能夠對屏蔽室內外進行反射，通過第一屏蔽層和第二屏蔽層進行進一步的屏蔽操作，在圖像采集座的一端設有攝像頭，使得圖像采集座通過透明屏蔽罩和連接套板的防護作用下能夠對屏蔽箱內側電子元件測試過程進行實時監測和記錄；

2、本實用新型將接電端座與導電座通過電性連接，其中在導線的外側設有屏蔽管，使得在整體進行接電時能夠保持屏蔽效果，通過九個導風管便于對通風的氣流進行分流，進而便于在通風罩的屏蔽作用下通過分散口對屏蔽室內進行通風操作。

附圖說明