[實用新型]一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室

有效

• 申請號: 202222779343.5
• 申請日: 2022-10-21
• 公開（公告）號: CN218727537U
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 李潤發;宋耀
• 申請（專利權）人: 東莞市力邦檢測服務有限公司
• 主分類號: G01R1/18
• 分類號: G01R1/18;H05K7/20
• 代理公司: 北京卓恒知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11394
• 代理人: 袁定田

1.一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，包括屏蔽箱(1)，其特征在于：所述屏蔽箱(1)的一側安裝有錐形通風口(4)，所述錐形通風口(4)一端的內側安裝有九個導風管(12)，所述導風管(12)的上端設有分散口(13)，九個所述導風管(12)上端的外側安裝有一個通風罩(11)，所述屏蔽箱(1)上端的內側安裝有連接套板(16)，所述連接套板(16)的一側固定安裝有三個圖像采集座(15)，三個所述圖像采集座(15)的外側安裝有一個透明屏蔽罩(14)，所述屏蔽箱(1)的上端面安裝有屏蔽蓋(2)，所述屏蔽蓋(2)中部的內側安裝有導電座(9)，所述屏蔽蓋(2)的上端面安裝有兩個接電端座(3)，所述導電座(9)的兩側與兩個接電端座(3)通過十四個屏蔽管(10)。

2.根據權利要求1所述的一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，其特征在于：所述屏蔽箱(1)包括外部反射層(5)、第一屏蔽層(6)、第二屏蔽層(7)和內部反射層(8)，所述外部反射層(5)的內側安裝有第一屏蔽層(6)，所述第一屏蔽層(6)的內側安裝有第二屏蔽層(7)，所述第二屏蔽層(7)的內側安裝有內部反射層(8)。

3.根據權利要求2所述的一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，其特征在于：所述內部反射層(8)與通風罩(11)粘接固定，所述導風管(12)的一端貫穿外部反射層(5)、第一屏蔽層(6)、第二屏蔽層(7)和內部反射層(8)延伸至通風罩(11)的內側，所述導風管(12)與錐形通風口(4)的內部貫通連接。

4.根據權利要求1所述的一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，其特征在于：所述屏蔽箱(1)與屏蔽蓋(2)通過密封墊連接，所述接電端座(3)與屏蔽蓋(2)通過螺釘連接固定，所述接電端座(3)的上端面與導電座(9)的下端面均設有接電插孔和數據傳輸孔。

5.根據權利要求1所述的一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，其特征在于：所述屏蔽管(10)的內側設有導線，所述導電座(9)與接電端座(3)通過導線連接。

6.根據權利要求1所述的一種電子元件測試用抗電磁波干擾的屏蔽室，其特征在于：所述透明屏蔽罩(14)與連接套板(16)卡接固定，所述圖像采集座(15)與連接套板(16)通過螺釘連接固定，所述圖像采集座(15)的一端設有攝像頭。