[實(shí)用新型]具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202222776807.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-10-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN218513422U | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-02-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫川;陶佳清;王小卓;姚富榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州矽行半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/66 | 分類號(hào): | H01L21/66;F21V9/40;F21V5/04;F21V7/00;F21V11/08 |
| 代理公司: | 上海華誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31300 | 代理人: | 劉煜 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 均勻 用于 半導(dǎo)體 表面 檢測(cè) 照明 裝置 | ||
1.一種具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述照明裝置包括:
光源(10);
衰減組件(11),其用于將所述光源(10)發(fā)出的光進(jìn)行能量衰減;
勻光組件(12),其用于對(duì)所述衰減組件(11)過(guò)濾后的光束進(jìn)行勻光;
濾光組件(13),其用于對(duì)勻光后的光束進(jìn)行過(guò)濾;
光斑調(diào)節(jié)組件,其用于將勻光過(guò)濾后的光束調(diào)節(jié)成預(yù)設(shè)光斑大小與預(yù)設(shè)光斑形狀,所述光源(10)、衰減組件(11)、勻光組件(12)、濾光組件(13)和光斑調(diào)節(jié)組件依次排列并同軸共線,光束經(jīng)過(guò)所述光源(10)、衰減組件(11)、勻光組件(12)、濾光組件(13)和光斑調(diào)節(jié)組件并形成第一光路(a);
反射組件(16),其位于所述第一光路(a)的末端,并用于將所述第一光路(a)中的光束進(jìn)行反射;
筒鏡組件(17),其用于接收所述反射組件(16)反射的光束,所述反射組件(16)與所述筒鏡組件(17)形成第二光路(b),所述第二光路(b)垂直于所述第一光路(a),所述第二光路(b)的光束在所述筒鏡組件(17)的作用下射出并照射在晶圓表面。
2.如權(quán)利要求1所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述光斑調(diào)節(jié)組件包括光斑大小調(diào)節(jié)件(14)與光斑形狀調(diào)節(jié)件(15),所述光斑大小調(diào)節(jié)件(14)與光斑形狀調(diào)節(jié)件(15)依次沿所述第一光路(a)排列。
3.如權(quán)利要求2所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述照明裝置還包括:
多個(gè)透鏡,多個(gè)所述透鏡位于所述光斑調(diào)節(jié)組件與濾光組件(13)之間,并位于所述第一光路(a)上。
4.如權(quán)利要求2所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述光斑形狀調(diào)節(jié)件(15)包括視場(chǎng)光闌。
5.如權(quán)利要求1所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述筒鏡組件(17)包括二向色鏡,所述反射組件(16)反射的光束經(jīng)過(guò)所述二向色鏡后分離,分離后的光束照射于所述晶圓表面并形成第三光路,所述第三光路垂直于所述第二光路(b)。
6.如權(quán)利要求5所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述照明裝置還包括:
物鏡(18),所述物鏡(18)與所述筒鏡組件(17)連接,所述物鏡(18)位于所述筒鏡組件(17)的下方,所述物鏡(18)位于待檢測(cè)晶圓的上方,光束經(jīng)過(guò)所述二向色鏡后分離至所述物鏡(18)并照射在所述晶圓表面。
7.如權(quán)利要求1所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述照明裝置還包括:
冷卻組件,所述冷卻組件安裝于所述光源(10)上,并用于對(duì)所述光源(10)進(jìn)行冷卻。
8.如權(quán)利要求1所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述光源(10)為氙燈。
9.如權(quán)利要求1所述的具有高均勻性的用于半導(dǎo)體表面檢測(cè)的照明裝置,其特征在于,所述勻光組件(12)包括微透鏡陣列。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





