[實用新型]一種集成電路板芯片測試治具

有效

• 申請號: 202222760101.1
• 申請日: 2022-10-20
• 公開（公告）號: CN218412813U
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 王海洋;劉雨晴
• 申請（專利權）人: 合肥爻達芯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02;B01D46/10;F26B21/00
• 代理公司: 深圳市興科達知識產權代理有限公司 44260
• 代理人: 潘月仙

本實用新型公開了一種集成電路板芯片測試治具，涉及電路板芯片測試技術領域，本實用新型包括測試平臺和托板，測試平臺上端安裝有托板，測試平臺表面設置有凹槽，凹槽內部連接有伸縮支桿，伸縮支桿頂端與托板連接，托板表面設置有放置槽，放置槽兩相對內側表面均連接有微型推桿，微型推桿的輸出端連接有夾持板，測試平臺一側安裝有連接架，連接架一端連接有安裝板，安裝板下端安裝有縱推桿，縱推桿一端連接有吸盤，吸盤下方與放置槽位置相適應，安裝板表面連接有熱風機。本實用新型測試時將集成電路板芯片放置于托板表面的放置槽，利用微型推桿經夾持板進行輔助的夾持固定，或利用縱推桿經吸盤進行吸附懸置，滿足不同的測試需求。

技術領域

本實用新型涉及電路板芯片測試技術領域，特別涉及一種集成電路板芯片測試治具。

背景技術

集成電路芯片是包括一硅基板、至少一電路、一固定封環、一接地環及至少一防護環的電子元件，集成電路芯片在生產過程中，需要進行性能測試；

目前的集成電路板芯片測試設備操作適應性不足，對于芯片的放置穩定性不足，缺乏夾持構件，并且通常采取單一的放置方式，難以滿足不同測試需求，此外對測試時的芯片缺乏維護結構，芯片含塵和含潮時影響使用；為此，我們提出一種集成電路板芯片測試治具。

實用新型內容

本實用新型的主要目的在于提供一種集成電路板芯片測試治具，以解決背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型采取的技術方案為：一種集成電路板芯片測試治具，包括測試平臺和托板，所述測試平臺上端安裝有托板，所述測試平臺表面設置有凹槽，所述凹槽內部連接有伸縮支桿，所述伸縮支桿頂端與托板連接，所述托板表面設置有放置槽，所述放置槽兩相對內側表面均連接有微型推桿，所述微型推桿的輸出端連接有夾持板，所述測試平臺一側安裝有連接架，所述連接架一端連接有安裝板，所述安裝板下端安裝有縱推桿，所述縱推桿一端連接有吸盤，所述吸盤下方與放置槽位置相適應，所述安裝板表面連接有熱風機，所述熱風機的輸出端連接有導風管，所述導風管的輸出端與放置槽位置相適應，所述連接架另一端連接有滑塊，所述測試平臺外側表面設置有滑槽，所述滑塊與滑槽位置相適應，且所述滑塊與滑槽滑動配合。

所述放置槽底面連接有濾板，對芯片表面灰塵進行濾除。

所述測試平臺一側連接有電動支桿，所述電動支桿一端與連接架連接，對安裝板及吸盤等進行輔助橫移。

所述縱推桿一端連接有卡件，所述卡件一端與安裝板連接，對縱推桿進行安裝連接。

所述測試平臺側表面連接有控制面板，所述控制面板分別與微型推桿、熱風機、電動支桿和縱推桿電性連接，操作控制自適應力強。

所述測試平臺底端連接有排塵管，所述排塵管一端與凹槽貫通，對吹除的灰塵進行排出。

所述測試平臺底端固定連接有支腳，對測試平臺進行支撐固定。

本實用新型具有如下有益效果：

本實用新型集成電路板芯片測試治具，測試時將集成電路板芯片放置于托板表面的放置槽，利用微型推桿經夾持板進行輔助的夾持固定，或利用縱推桿經吸盤進行吸附懸置，滿足不同的測試需求。

本實用新型集成電路板芯片測試治具，安裝板表面連接熱風機，熱風機的輸出端連接導風管，其與放置槽位置相適應，對集成電路板芯片進行除塵干燥處理，保持集成電路板芯片的測試精度。

附圖說明

圖1為本實用新型集成電路板芯片測試治具的整體結構示意圖；

圖2為本實用新型集成電路板芯片測試治具的側視結構示意圖；

圖3為本實用新型集成電路板芯片測試治具的圖2中A-A面的剖視圖；

圖4為本實用新型集成電路板芯片測試治具的滑塊位置結構示意圖；