[實用新型]一種集成電路板芯片測試治具

有效

• 申請號: 202222760101.1
• 申請日: 2022-10-20
• 公開（公告）號: CN218412813U
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 王海洋;劉雨晴
• 申請（專利權）人: 合肥爻達芯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02;B01D46/10;F26B21/00
• 代理公司: 深圳市興科達知識產權代理有限公司 44260
• 代理人: 潘月仙

1.一種集成電路板芯片測試治具，包括測試平臺(1)和托板(2)，所述測試平臺(1)上端安裝有托板(2)，其特征在于：所述測試平臺(1)表面設置有凹槽(11)，所述凹槽(11)內部連接有伸縮支桿(10)，所述伸縮支桿(10)頂端與托板(2)連接，所述托板(2)表面設置有放置槽(3)，所述放置槽(3)兩相對內側表面均連接有微型推桿(4)，所述微型推桿(4)的輸出端連接有夾持板(5)，所述測試平臺(1)一側安裝有連接架(13)，所述連接架(13)一端連接有安裝板(6)，所述安裝板(6)下端安裝有縱推桿(16)，所述縱推桿(16)一端連接有吸盤(18)，所述吸盤(18)下方與放置槽(3)位置相適應，所述安裝板(6)表面連接有熱風機(7)，所述熱風機(7)的輸出端連接有導風管(8)，所述導風管(8)的輸出端與放置槽(3)位置相適應，所述連接架(13)另一端連接有滑塊(14)，所述測試平臺(1)外側表面設置有滑槽(15)，所述滑塊(14)與滑槽(15)位置相適應，且所述滑塊(14)與滑槽(15)滑動配合。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路板芯片測試治具，其特征在于：所述放置槽(3)底面連接有濾板(9)。

3.根據權利要求1所述的一種集成電路板芯片測試治具，其特征在于：所述測試平臺(1)一側連接有電動支桿(12)，所述電動支桿(12)一端與連接架(13)連接。

4.根據權利要求1所述的一種集成電路板芯片測試治具，其特征在于：所述縱推桿(16)一端連接有卡件(17)，所述卡件(17)一端與安裝板(6)連接。

5.根據權利要求1所述的一種集成電路板芯片測試治具，其特征在于：所述測試平臺(1)側表面連接有控制面板(19)，所述控制面板(19)分別與微型推桿(4)、熱風機(7)、電動支桿(12)和縱推桿(16)電性連接。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路板芯片測試治具，其特征在于：所述測試平臺(1)底端連接有排塵管(21)，所述排塵管(21)一端與凹槽(11)貫通。

7.根據權利要求1所述的一種集成電路板芯片測試治具，其特征在于：所述測試平臺(1)底端固定連接有支腳(20)。