[實用新型]一種垂直式X射線成像檢測裝置

有效

• 申請號: 202222644472.3
• 申請日: 2022-10-09
• 公開（公告）號: CN218173519U
• 公開（公告）日: 2022-12-30
• 發明（設計）人: 張吉東;孟圣斐;宋新月
• 申請（專利權）人: 蘇州鋰影科技有限公司
• 主分類號: B65G15/58
• 分類號: B65G15/58;B65G15/30;B65G17/32;B65G17/12;B65G17/30;B65G17/46;B65G47/57;B65G47/71;G01N23/04
• 代理公司: 北京方圓嘉禾知識產權代理有限公司 11385
• 代理人: 劉璐璐

1.一種垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：包括垂直傳送結構、X射線成像模塊、第一機械手和第二機械手，所述垂直傳送結構用于帶動樣品豎直運動，所述X射線成像模塊用于檢測樣品，所述第一機械手用于將樣品放置在所述垂直傳送結構上進行檢測，所述垂直傳送結構將樣品傳送至成像區域時，所述X射線成像模塊對成像區域的樣品進行檢測，所述第二機械手用于將檢測完的樣品由所述垂直傳送結構上取走。

2.根據權利要求1所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：所述垂直傳送結構包括驅動結構和傳送帶，所述驅動結構驅動所述傳送帶運動，所述傳送帶上設置有若干樣品卡槽，所述樣品卡槽用于放置樣品。

3.根據權利要求2所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：相鄰的所述卡槽的間距為1-50mm。

4.根據權利要求1所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：所述第一機械手為至少兩個；所述第二機械手為至少兩個。

5.根據權利要求1所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：所述第一機械手為兩個，一個所述第一機械手用于向所述垂直傳送結構的奇數位置放置樣品，另一個所述第一機械手用于向所述垂直傳送結構的偶數位置放置樣品；所述第二機械手為兩個，一個所述第二機械手用于拿取所述垂直傳送結構的奇數位置放置的樣品，另一個所述第二機械手用于拿取所述垂直傳送結構的偶數位置放置的樣品。

6.根據權利要求1所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：還包括第一輸送結構，所述第一輸送結構用于將樣品由遠離所述垂直傳送結構向靠近所述垂直傳送結構進行輸送，所述第一機械手用于將所述第一輸送結構上的樣品放置在所述垂直傳送結構上進行檢測。

7.根據權利要求1所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：還包括第二輸送結構，所述第二輸送結構用于將樣品由靠近所述垂直傳送結構向遠離所述垂直傳送結構進行輸送，所述第二機械手用于將檢測完的樣品由所述垂直傳送結構上取走后放置在所述第二輸送結構上。

8.根據權利要求1所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：所述X射線成像模塊包括微焦點X射線源和二維X射線探測器，所述微焦點X射線源用于產生照射在樣品上的X射線光束，所述二維X射線探測器負責接收所述微焦點X射線源透過樣品后所成的像。

9.根據權利要求8所述的垂直式X射線成像檢測裝置，其特征在于：所述二維X射線探測器至少為兩個。