[實用新型]一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置有效
| 申請號: | 202222196896.8 | 申請日: | 2022-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN218036154U | 公開(公告)日: | 2022-12-13 |
| 發明(設計)人: | 孫杰;宿文玲 | 申請(專利權)人: | 孫杰 |
| 主分類號: | G01N3/12 | 分類號: | G01N3/12;G01N3/02 |
| 代理公司: | 北京權智天下知識產權代理事務所(普通合伙) 11638 | 代理人: | 劉冬 |
| 地址: | 150090 黑龍江省哈爾*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子 芯片 塑封 外殼 抗壓 檢測 裝置 | ||
本實用新型公開了一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,包括底座、側板、頂板和塑封外殼放置平臺,側板垂直安裝于底座一側,頂板垂直安裝于側板頂端,塑封外殼放置平臺設置于底座上方,且塑封外殼放置平臺下端面與底座上端面之間安裝減震組件,頂板內側安裝壓板組件,本實用新型結構設計新穎,操作方便,能夠實現對電子芯片塑封外殼的抗壓性能測試,測試精確度高,且不會損壞電子芯片塑封外殼表面,能夠提高檢測效率。
技術領域
本實用新型涉及抗壓檢測技術領域,具體為一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置。
背景技術
集成電路芯片在封裝工序之后,必須要經過嚴格地檢測才能保證產品的質量,芯片外觀檢測是一項必不可少的重要環節,它直接影響到IC產品的質量及后續生產環節的順利進行。外觀檢測的方法有三種:一是傳統的手工檢測方法,主要靠目測,手工分檢,可靠性不高,檢測效率較低,勞動強度大,檢測缺陷有疏漏,無法適應大批量生產制造;二是基于激光測量技術的檢測方法,該方法對設備的硬件要求較高,成本相應較高,設備故障率高,維護較為困難;三是基于機器視覺的檢測方法,這種方法由于檢測系統硬件易于集成和實現、檢測速度快、檢測精度高,而且使用維護較為簡便,因此,在芯片外觀檢測領域的應用也越來越普遍,是IC芯片外觀檢測的一種發展趨勢。
此外,在芯片塑封后需要對塑封外殼進行抗壓檢測,現有的檢測裝置還存在不足之處,功能不夠完善,有必要進行改進。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,以解決上述背景技術中提出的問題。
為實現上述目的,本實用新型提供如下技術方案:一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,包括底座、側板、頂板和塑封外殼放置平臺,所述側板垂直安裝于底座一側,所述頂板垂直安裝于側板頂端,所述塑封外殼放置平臺設置于底座上方,且所述塑封外殼放置平臺下端面與底座上端面之間安裝減震組件,所述頂板內側安裝壓板組件。
優選的,本申請提供的一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,其中,所述壓板組件包括伸縮液壓缸、壓板安裝架和壓板,所述伸縮液壓缸尾端固定于頂板內側,所述伸縮液壓缸伸縮端連接壓板安裝架,所述壓板安裝于壓板安裝架。
優選的,本申請提供的一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,其中,還包括壓力監測組件,所述壓力監測組件包括壓力傳感器和監測主機,所述壓力傳感器內嵌于壓板下表面,所述監測主機安裝于頂板上端面,所述壓力傳感器信號連接監測主機。
優選的,本申請提供的一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,其中,所述減震組件包括上套筒、下套筒和導向桿,所述上套筒安裝于塑封外殼放置平臺下端面,所述下套筒安裝于底座上端面,所述導向桿兩端分別置于上套筒和下套筒內。
優選的,本申請提供的一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,其中,還包括碟簧組,所述碟簧組安裝于導向桿外部。
優選的,本申請提供的一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,其中,所述塑封外殼放置平臺上端面開設放置槽,所述放置槽內安裝芯片外殼夾緊組件,所述芯片外殼夾緊組件夾緊固定塑封外殼。
優選的,本申請提供的一種電子芯片塑封外殼抗壓檢測裝置,其中,所述芯片外殼夾緊組件包括對稱設置的兩組夾緊機構,每組所述夾緊機構均包括U型夾塊和伸縮氣缸,所述伸縮氣缸尾端固定于放置槽內壁,所述伸縮氣缸伸縮端連接U型夾塊。
與現有技術相比,本實用新型的有益效果是:本實用新型結構設計新穎,操作方便,能夠實現對電子芯片塑封外殼的抗壓性能測試,測試精確度高,且不會損壞電子芯片塑封外殼表面,能夠提高檢測效率;其中,采用的減震組件能夠減緩塑封外殼受到的壓力,防止出現變形現象;采用的芯片外殼夾緊組件能夠夾緊固定不同尺寸的芯片外殼。
附圖說明
圖1為本實用新型結構示意圖;
圖2為本實用新型減震組件結構示意圖;
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