[實用新型]一種芯片測試治具

有效

• 申請號: 202222034778.7
• 申請日: 2022-08-03
• 公開（公告）號: CN217981737U
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 藍習麟
• 申請（專利權）人: 無錫市華宇光微電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種芯片測試治具，它包括：測試組件，所述測試組件包括主底板、固定在所述主底板頂部的測試底板、開設在所述測試底板頂部的手指槽以及設置在所述手指槽內的測試手指；載臺組件，所述載臺組件包括可移動地設置在所述主底板一側的載臺底板以及開設在所述載臺底板頂部的芯片槽；轉移組件，所述轉移組件包括轉移板、固定在所述轉移板底部的吸板以及固定在所述吸板底部的吸嘴，所述轉移板設置在測試組件和載臺組件之間，所述轉移板具有平移運動和升降運動，所述吸嘴用吸取芯片槽內的芯片。本實用新型芯片測試治具結構簡單，整個過程不需要人工的投入，節省成本，提高了測試效率以及測試的準確率。

技術領域

本實用新型屬于芯片檢測技術領域，具體涉及一種芯片測試治具。

背景技術

芯片在電子學中是一種將電路(主要包括半導體設備，也包括被動組件等)小型化的方式，并時常制造在半導體晶圓表面上，通常應用在新能源、信息通訊和智能電網等領域。芯片包括芯片本體以及一體連接在芯片本體兩側的引腳，芯片在加工完成后，需要對其進行導通測試。

而在現有的芯片測試中，需要操作工將芯片放置在測試手指上，人工放置無法保證每個引腳都對準測試手指，因而無法保證測試結果的準確率，而且人工操作效率低，投入的成本高。

實用新型內容

本實用新型目的是為了克服現有技術的不足而提供一種芯片測試治具。

為達到上述目的，本實用新型采用的技術方案是：一種芯片測試治具，它包括：

測試組件，所述測試組件包括主底板、固定在所述主底板頂部的測試底板、開設在所述測試底板頂部的手指槽以及設置在所述手指槽內的測試手指；

載臺組件，所述載臺組件包括可移動地設置在所述主底板一側的載臺底板以及開設在所述載臺底板頂部的芯片槽；

轉移組件，所述轉移組件包括轉移板、固定在所述轉移板底部的吸板以及固定在所述吸板底部的吸嘴，所述轉移板設置在測試組件和載臺組件之間，所述轉移板具有平移運動和升降運動，所述吸嘴用吸取芯片槽內的芯片。

優化地，所述測試組件還包括開設在所述主底板頂部的測試槽、開設在所述測試槽底部的通槽、固定在所述主底板頂部的測試蓋板以及貫穿所述測試蓋板的避讓槽，所述測試底板固定在所述測試槽內。

優化地，所述測試組件還包括固定在所述測試蓋板頂部的第一定位柱、一體連接在所述測試底板頂部的凸塊以及設置在所述凸塊相向一側的避讓面，所述凸塊置于避讓槽內。

優化地，所述載臺組件還包括設置在所述芯片槽四周的斜面以及固定在所述載臺底板頂部的第二定位柱。

優化地，所述轉移組件還包括固定在所述轉移板底部的定位板以及貫穿所述定位板的定位孔，所述定位孔分別與第一定位柱和第二定位柱相配合。

優化地，所述吸嘴包括固定在所述吸板底部的固定部、一體連接在所述固定部底部的吸嘴本體、貫穿所述吸板和吸嘴本體的氣流通道、一體連接在所述吸嘴本體底部的引腳撐板以及開設在相鄰引腳撐板之間的凹槽。

優化地，所述定位孔的直徑等于第一定位柱和第二定位柱的直徑。

優化地，所述引腳撐板的寬度等于所述手指槽的寬度。

由于上述技術方案的運用，本實用新型與現有技術相比具有下列優點：

本實用新型芯片測試治具結構簡單，通過載臺組件中轉芯片，由轉移組件將芯片從載臺組件取至測試組件處，完成測試，通過定位孔與第一定位柱和第二定位柱的配合，確保芯片取放位置的準確，通過凹槽與凸塊的配合，確保芯片引腳準確地放置在測試手指上，整個過程不需要人工的投入，節省成本，提高了測試效率以及測試的準確率。

附圖說明

圖1為本實用新型待測芯片的結構示意圖；