[實用新型]一種芯片測試治具

有效

• 申請號: 202222034778.7
• 申請日: 2022-08-03
• 公開（公告）號: CN217981737U
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 藍習麟
• 申請（專利權）人: 無錫市華宇光微電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片測試治具，所述芯片包括芯片本體以及一體連接在所述芯片本體側邊的引腳，其特征在于，它包括：

測試組件(1)，所述測試組件(1)包括主底板(101)、固定在所述主底板(101)頂部的測試底板(104)、開設在所述測試底板(104)頂部的手指槽(105)以及設置在所述手指槽(105)內的測試手指(106)；

載臺組件(2)，所述載臺組件(2)包括可移動地設置在所述主底板(101)一側的載臺底板(201)以及開設在所述載臺底板(201)頂部的芯片槽(202)；

轉移組件(3)，所述轉移組件(3)包括轉移板(301)、固定在所述轉移板(301)底部的吸板(304)以及固定在所述吸板(304)底部的吸嘴(305)，所述轉移板(301)設置在測試組件(1)和載臺組件(2)之間，所述轉移板(301)具有平移運動和升降運動，所述吸嘴(305)用吸取芯片槽(202)內的芯片。

2.根據權利要求1所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述測試組件(1)還包括開設在所述主底板(101)頂部的測試槽(102)、開設在所述測試槽(102)底部的通槽(103)、固定在所述主底板(101)頂部的測試蓋板(109)以及貫穿所述測試蓋板(109)的避讓槽(110)，所述測試底板(104)固定在所述測試槽(102)內。

3.根據權利要求2所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述測試組件(1)還包括固定在所述測試蓋板(109)頂部的第一定位柱(111)、一體連接在所述測試底板(104)頂部的凸塊(107)以及設置在所述凸塊(107)相向一側的避讓面(108)，所述凸塊(107)置于避讓槽(110)內。

4.根據權利要求3所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述載臺組件(2)還包括設置在所述芯片槽(202)四周的斜面(203)以及固定在所述載臺底板(201)頂部的第二定位柱(204)。

5.根據權利要求4所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述轉移組件(3)還包括固定在所述轉移板(301)底部的定位板(302)以及貫穿所述定位板(302)的定位孔(303)，所述定位孔(303)分別與第一定位柱(111)和第二定位柱(204)相配合。

6.根據權利要求1所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述吸嘴(305)包括固定在所述吸板(304)底部的固定部(3051)、一體連接在所述固定部(3051)底部的吸嘴本體(3052)、貫穿所述吸板(304)和吸嘴本體(3052)的氣流通道(3054)、一體連接在所述吸嘴本體(3052)底部的引腳撐板(3053)以及開設在相鄰引腳撐板(3053)之間的凹槽(3055)。

7.根據權利要求5所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述定位孔(303)的直徑等于第一定位柱(111)和第二定位柱(204)的直徑。

8.根據權利要求6所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述引腳撐板(3053)的寬度等于所述手指槽(105)的寬度。