[實用新型]晶圓半導體固化設備有效
| 申請號: | 202221275532.2 | 申請日: | 2022-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN217444352U | 公開(公告)日: | 2022-09-16 |
| 發明(設計)人: | 于國輝;張禹;孟憲圓;曾廣祎;陳磊;高今朝;李臣友 | 申請(專利權)人: | 秦皇島視聽機械研究所有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/677 | 分類號: | H01L21/677;H01L21/67;H01L21/683;H01L21/66 |
| 代理公司: | 石家莊旭昌知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 13126 | 代理人: | 雷瑩 |
| 地址: | 066000 河北省秦皇島市海港區*** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 固化 設備 | ||
1.一種晶圓半導體固化設備,包括基座(1),以及設于所述基座(1)上的供收單元,其特征在于:
所述供收單元包括設于所述基座(1)上的供片倉(20)和收片倉(21),所述供片倉(20)用于存放待檢測的晶圓(5);
所述基座(1)上設有用于取放所述晶圓(5)的移取機構,所述移取機構包括倒片盤(30),以及驅動所述倒片盤(30)移動和轉動的驅動單元;
所述基座(1)上還設有對所述晶圓(5)上的標記進行固化的固化單元,所述固化單元包括固化倉(40)和設于所述固化倉(40)內的光源體,所述倒片盤(30)拿取所述供片倉(20)內的所述晶圓(5)移動至檢測設備,所述倒片盤(30)拿取經所述檢測設備檢測并標記有光敏墨水的所述晶圓(5)至所述固化倉(40)內,經所述光源體對所述標記固化后由所述倒片盤(30)轉移至所述收片倉(21)。
2.根據權利要求1所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述驅動單元包括回轉臺(310),以及固定于所述回轉臺(310)上的第一電缸(311),所述回轉臺(310)驅使所述第一電缸(311)轉動,所述倒片盤(30)與所述第一電缸(311)連接以驅動所述倒片盤(30)移動。
3.根據權利要求2所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述倒片盤(30)呈U型并具有兩個端部懸空的支腿(300),于各所述支腿(300)上設有間隔布置的真空吸孔(301)。
4.根據權利要求2所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述驅動單元還包括設于所述基座(1)上的第三電缸(312),所述回轉臺(310)位于所述第三電缸(312)上,于所述第三電缸(312)旁設有用于固定接線的拖鏈線槽(313)。
5.根據權利要求1所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述供片倉(20)內設有供片托盤(200),所述收片倉(21)內設有收片托盤(210),所述供片托盤(200)和所述收片托盤(210)上均設有擋片柱(201)。
6.根據權利要求5所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述擋片柱(201)為布置在所述供片托盤(200)和所述收片托盤(210)上的多個,所述倒片盤(30)插入相鄰的兩個所述擋片柱(201)之間,所述倒片盤(30)抽出而使所述晶圓(5)落入所述供片托盤(200)或所述收片托盤(210)上。
7.根據權利要求5所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述供片托盤(200)和/或所述收片托盤(210)背離所述擋片柱(201)的一側設有導向移動單元。
8.根據權利要求7所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述導向移動單元包括豎直設于所述基座(1)上的安裝板(10),以及固定在所述安裝板(10)上的第二電缸(100),所述第二電缸(100)與所述供片托盤(200)和/或所述收片托盤(210)固定連接。
9.根據權利要求1-8中任一項所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述供片倉(20)上設有可移動并吸取所述晶圓(5)的吸取單元。
10.根據權利要求9所述的晶圓半導體固化設備,其特征在于:所述吸取單元包括被驅使移動的設于所述供片倉(20)頂部的吸盤(202)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于秦皇島視聽機械研究所有限公司,未經秦皇島視聽機械研究所有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202221275532.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:飛刀式立軸行星攪拌裝置
- 下一篇:一種巖棉生產線后工段用自動加工系統
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





