[實用新型]一種半導體檢測高精度檢測平臺

有效

• 申請號: 202221167665.8
• 申請日: 2022-05-16
• 公開（公告）號: CN218068200U
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 李濤;劉利
• 申請（專利權）人: 深圳有泰光電有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 王麗

1.一種半導體檢測高精度檢測平臺，包括設備本體(1)，其特征在于：所述設備本體(1)的左右兩側表面均固定連接有第一電動滑軌(4)，兩個所述第一電動滑軌(4)的內壁均滑動連接有第一電動滑塊(5)，兩個所述第一電動滑塊(5)的上方設置有旋轉機構，所述設備本體(1)上表面的后側固定連接有電動伸縮塊(6)，所述電動伸縮塊(6)的上表面固定連接有第一固定塊(7)，所述第一固定塊(7)的前側表面固定連接有高精度影像儀(8)，所述設備本體(1)上表面的中心處開設有第一凹槽(12)，所述第一凹槽(12)的內部設置有伸縮機構。

2.根據權利要求1所述的一種半導體檢測高精度檢測平臺，其特征在于：所述旋轉機構包括兩個固定筒(9)，兩個所述固定筒(9)的下表面均與相對應的第一電動滑塊(5)的上表面固定連接，兩個所述固定筒(9)內壁的下方均固定連接有電機(22)，兩個所述電機(22)的輸出端均固定連接有第一轉軸(10)，兩個所述第一轉軸(10)的上端均貫穿相對應的固定筒(9)內壁的上方并延伸至其上方，兩個所述第一轉軸(10)的上表面均固定連接有第一固定板(11)，兩個所述第一固定板(11)的下方設置有夾持機構。

3.根據權利要求2所述的一種半導體檢測高精度檢測平臺，其特征在于：所述夾持機構包括兩個第二固定板(18)，兩個所述第二固定板(18)的上表面均與相對應的第一固定板(11)固定連接，兩個所述第二固定板(18)的下表面固定連接有兩個移動方向相反的第二電動滑軌(23)，兩個所述第二電動滑軌(23)的內壁均滑動連接有第二電動滑塊(19)。

4.根據權利要求1所述的一種半導體檢測高精度檢測平臺，其特征在于：所述伸縮機構包括液壓桿(14)，所述液壓桿(14)的下表面與第一凹槽(12)內壁的下方固定連接，所述液壓桿(14)的輸出端固定連接有放置臺(15)，所述放置臺(15)的內部放置有半導體(16)，所述設備本體(1)內壁下方的左右兩側均固定連接有多個探照燈(13)，多個所述探照燈(13)的上端均貫穿第一凹槽(12)內壁的上方并延伸至其上表面。

5.根據權利要求3所述的一種半導體檢測高精度檢測平臺，其特征在于：所述兩個第二電動滑塊(19)的相對一側表面均固定連接有墊塊(20)，兩個所述墊塊(20)相對一側表面的下方均開設有與半導體(16)兩端相匹配的第二凹槽(21)。

6.根據權利要求5所述的一種半導體檢測高精度檢測平臺，其特征在于：所述墊塊(20)的材料為橡膠纖維制成。

7.根據權利要求1所述的一種半導體檢測高精度檢測平臺，其特征在于：左側的所述第一電動滑軌(4)的前側表面固定連接有收集盒(2)，右側的所述第一電動滑軌(4)的前側表面固定連接有放置盒(3)。