[實用新型]一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置

有效

• 申請號: 202220933978.3
• 申請日: 2022-04-21
• 公開（公告）號: CN217560876U
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發明（設計）人: 朱兵;錢榮華
• 申請（專利權）人: 蘇州埃緹益自動化科技有限公司
• 主分類號: G01M3/04
• 分類號: G01M3/04
• 代理公司: 蘇州言思嘉信專利代理事務所(普通合伙) 32385
• 代理人: 安琳

本實用新型公開了一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置，包括固定機構和安裝機構，所述固定機構的內側中部安裝有用于位置調節的移動機構，用于安裝的所述安裝機構設置于固定機構的內部上方，且固定機構的上表面前端開設有用于排水的流通機構。該可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置，與現有的裝置相比，通過流通槽和漏水口，可以將檢測后的殘留水體進行流通，通過導水管，可以將殘留的水體進行清除，避免干擾下一半導體的質量和漏水檢測精度，通過插接管和卡合環，可以方便將導水管與漏水口之間進行拆裝，從而在長期使用后方便進行更換，通過卡合環，其為橡膠材質，可以在卡合緊固的同時，來提高安裝的密封性，避免發生泄漏。

技術領域

本實用新型涉及半導體用漏水檢測裝置技術領域，具體為一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置。

背景技術

半導體指常溫下導電性能介于導體與絕緣體之間的材料，無論從科技或是經濟發展的角度來看，半導體的重要性都是非常巨大的。大部分的電子產品，如計算機、移動電話或是數字錄音機當中的核心單元都和半導體有著極為密切的關聯，常見的半導體材料有硅、鍺、砷化鎵等，硅是各種半導體材料應用中最具有影響力的一種，然而半導體在使用前需要用到漏水檢測裝置進行檢測。

現有的半導體用漏水檢測裝置，存在使用時，不能對檢測區域殘留的水體進行清除，容易影響下一半導體的質量和漏水檢測精度的問題，為此，我們提出一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置，包括固定機構和安裝機構，所述固定機構的內側中部安裝有用于位置調節的移動機構，用于安裝的所述安裝機構設置于固定機構的內部上方，且固定機構的上表面前端開設有用于排水的流通機構，所述固定機構的上方后部連接有用于吹風的干燥機構，所述安裝機構的上方連接有用于安裝的連接機構，且安裝機構包括導水管和卡環，所述導水管的上方兩側安裝有卡環，所述流通機構包括流通槽和漏水口，且流通槽的下方設置有漏水口，所述連接機構包括插接管和卡合環，且插接管的中部設置有卡合環。

進一步的，所述導水管與插接管相連通，且插接管的設置數目為三個。

進一步的，所述固定機構包括主體箱和安裝罩，且主體箱的上方中部設置有安裝罩。

進一步的，所述固定機構還包括透明板，且透明板固定在主體箱的內部上方。

進一步的，所述移動機構包括第一直線電機和移動架，且第一直線電機的上方安裝有移動架。

進一步的，所述移動機構還包括第二直線電機和熱像儀，且第二直線電機安裝在移動架的上方，所述第二直線電機的上方中部設置有熱像儀。

進一步的，所述干燥機構包括進氣管和導氣管，且進氣管的輸出端連接有導氣管。

進一步的，所述干燥機構還包括噴氣口，且噴氣口安裝在導氣管的輸出端。

與現有技術相比，本實用新型提供了一種可引流排水的半導體老化設備漏水檢測裝置，具備以下有益效果：該半導體用漏水檢測裝置，可以多位置以及對多個半導體進行檢測，且可以將殘留的水體進行清除，避免干擾下一半導體的質量和漏水檢測精度。

1.本實用新型通過透明板，可以用于對待檢測的半導體進行放置，同時通透的透明板可以便于透光檢測，通過安裝罩，可以進行遮擋防護，避免外部環境對檢測產生影響，通過熱像儀，可以對半導體進行檢測，利用參照的半導體，從而通過觀察熱流向來判斷半導體的漏水情況，通過第一直線電機和第二直線電機，可以帶動移動架和熱像儀進行前后左右移動，從而可以多位置以及對多個半導體進行檢測，通過進氣管和導氣管，其輸入端連接有熱風機，可以將熱風從噴氣口中噴出，從而可以將附著的水進行干燥；