[實用新型]一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置

有效

• 申請號: 202220838817.6
• 申請日: 2022-04-13
• 公開（公告）號: CN217211151U
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 王麗莎;瞿嬌嬌;孫松松;劉民哲;趙坤;劉夢霖;王勇;翟瑞占;賈中青
• 申請（專利權）人: 山東省科學院激光研究所
• 主分類號: G01J9/02
• 分類號: G01J9/02;G01M11/02
• 代理公司: 青島華慧澤專利代理事務所(普通合伙) 37247
• 代理人: 姜英昌

本實用新型公開了一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，包括殼體，殼體一端設置有法蘭盤固定座，法蘭盤固定座上安裝有兩個光纖法蘭盤，殼體包括上蓋和底殼，底殼內表面安裝有第一法拉第反射鏡、第二法拉第反射鏡、玻片耦合器、PZT驅動器及微型PZT，微型PZT的正負極導線與PZT驅動器連接，微型PZT側面粘貼單模保偏光纖，第一法拉第反射鏡通過光纖與玻片耦合器連接，第二法拉第反射鏡通過光纖依次與微型PZT及玻片耦合器連接，所述玻片耦合器的輸入端與輸出端分別與兩個光纖法蘭盤連接，底殼及上蓋可拆卸連接。本實用新型成本低，結構簡單，便于攜帶且易實現，結構緊湊，放置光學器件的水平凹槽并列排布，固定器件的同時又能保證充分散熱。

技術領域

本實用新型涉及相位噪聲測試設備技術領域，尤其是一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置。

背景技術

單頻窄線寬激光器是計量學、相干光通信、高分辨率傳感和激光雷達等領域廣泛應用的基礎。在這些應用中，相位噪聲是影響單頻窄線寬激光器系統性能的關鍵因素之一，相位噪聲的表征和測量具有重要的應用意義。相位噪聲測試中，通過光纖干涉裝置對傳輸光信號的相位補償，使相位噪聲測試裝置一直保持在正交工作點狀態，現有的光纖干涉裝置結構復雜，體積大，且內部光纖布置不合理，散熱效果差。

實用新型內容

為了克服現有技術中存在的上述問題，本實用新型提出一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，包括殼體，所述殼體一端設置有法蘭盤固定座，所述法蘭盤固定座上安裝有光纖法蘭盤，所述殼體包括上蓋和底殼，所述底殼內表面安裝有第一法拉第反射鏡、第二法拉第反射鏡、玻片耦合器、PZT驅動器及微型PZT，所述微型PZT的正負極導線與PZT驅動器連接，所述微型PZT側面粘貼單模保偏光纖，所述第一法拉第反射鏡通過光纖與玻片耦合器連接，所述第二法拉第反射鏡通過光纖依次與微型PZT及玻片耦合器連接，所述玻片耦合器的輸入端與輸出端分別與兩個光纖法蘭盤連接，所述底殼及上蓋可拆卸連接。

上述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，所述底殼內表面設置有第一法拉第反射鏡凹槽、第二法拉第反射鏡凹槽、玻片耦合器凹槽、PZT凹槽，所述第一法拉第反射鏡安裝于第一法拉第反射鏡凹槽內，所述第二法拉第反射鏡安裝于第二法拉第反射鏡凹槽內，所述玻片耦合器安裝于玻片耦合器凹槽內，所述微型PZT安裝于PZT凹槽內。

上述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，所述底殼及上蓋通過定位螺栓連接。

上述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，所述底殼及上蓋為D型結構，所述第一法拉第反射鏡、第二法拉第反射鏡、玻片耦合器安裝于底殼靠近水平端。

上述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，所述底殼內表面邊部設置有光纖凹槽。

上述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，所述光纖凹槽為光滑半圓形凹槽，所述光纖凹槽的直徑為350um。

上述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，所述玻片耦合器為50/50玻片耦合器。

本實用新型的有益效果是，本實用新型成本低，結構簡單，便于攜帶且易實現；D型結構設計，充分且合理的利用了裝置內空間，結構緊湊；放置光學器件的水平凹槽并列排布，固定器件的同時又能保證充分散熱。光纖凹槽呈D字螺旋緊密排布，凹槽軌跡不交疊，可以快速的引導光纖盤繞，同時兩路傳輸光之間互不干擾，既可以實現對信號傳輸光偏振態的有效控制，又增加了測試的精確度與穩定性。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。

圖1為本實用新型爆炸圖；

圖2為本實用新型內部結構俯視圖；

圖3為本實用新型使用原理圖；