[實用新型]一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置

有效

• 申請號: 202220838817.6
• 申請日: 2022-04-13
• 公開（公告）號: CN217211151U
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 王麗莎;瞿嬌嬌;孫松松;劉民哲;趙坤;劉夢霖;王勇;翟瑞占;賈中青
• 申請（專利權）人: 山東省科學院激光研究所
• 主分類號: G01J9/02
• 分類號: G01J9/02;G01M11/02
• 代理公司: 青島華慧澤專利代理事務所(普通合伙) 37247
• 代理人: 姜英昌

1.一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于：包括殼體，所述殼體一端設置有法蘭盤固定座，所述法蘭盤固定座上安裝有兩個光纖法蘭盤，所述殼體包括上蓋和底殼，所述底殼內表面安裝有第一法拉第反射鏡、第二法拉第反射鏡、玻片耦合器、PZT驅動器及微型PZT，所述微型PZT的正負極導線與PZT驅動器連接，所述微型PZT側面粘貼單模保偏光纖，所述第一法拉第反射鏡通過光纖與玻片耦合器連接，所述第二法拉第反射鏡通過光纖依次與微型PZT及玻片耦合器連接，所述玻片耦合器的輸入端與輸出端分別與兩個光纖法蘭盤連接，所述底殼及上蓋可拆卸連接。

2.根據權利要求1所述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于，所述底殼內表面設置有第一法拉第反射鏡凹槽、第二法拉第反射鏡凹槽、玻片耦合器凹槽、PZT凹槽，所述第一法拉第反射鏡安裝于第一法拉第反射鏡凹槽內，所述第二法拉第反射鏡安裝于第二法拉第反射鏡凹槽內，所述玻片耦合器安裝于玻片耦合器凹槽內，所述微型PZT安裝于PZT凹槽內。

3.根據權利要求1所述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于，所述底殼及上蓋通過定位螺栓連接。

4.根據權利要求1所述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于，所述底殼及上蓋為D型結構，所述第一法拉第反射鏡、第二法拉第反射鏡、玻片耦合器安裝于底殼靠近水平端。

5.根據權利要求4所述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于，所述底殼內表面邊部設置有光纖凹槽。

6.根據權利要求5所述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于，所述光纖凹槽為光滑半圓形凹槽，所述光纖凹槽的直徑為350um。

7.根據權利要求1所述的一種用于相位噪聲測試的光纖干涉裝置，其特征在于，所述玻片耦合器為50/50玻片耦合器。