[實用新型]一種引線框架翹曲度測量裝置有效
| 申請號： | 202220825170.3 | 申請日： | 2022-04-11 |
| 公開（公告）號： | CN217134326U | 公開（公告）日： | 2022-08-05 |
| 發明（設計）人： | 徐紅波 | 申請（專利權）人： | 寧波港波電子有限公司 |
| 主分類號： | H01L21/67 | 分類號： | H01L21/67;H01L21/66 |
| 代理公司： | 寧波奇銘知識產權代理事務所(普通合伙) 33473 | 代理人： | 李銘 |
| 地址： | 315113 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 引線 框架 曲度 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種引線框架翹曲度測量裝置，包括基板，其特征在于：所述基板后側中部固定有水平的輔助架，位于所述輔助架上設置有夾持組件，位于所述基板上滑動套接有滑套，位于所述滑套一側上部固定有測量板，位于所述測量板一側面由下而上依次印刻有水平的測量刻度線。
2.根據權利要求1所述的一種引線框架翹曲度測量裝置，其特征在于：所述夾持組件包括夾臂以及豎直向下固定在所述夾臂一端的硅膠夾持塊，夾臂的另一端通過插接在輔助架上部中間位置所開設的凹槽內。
3.根據權利要求2所述的一種引線框架翹曲度測量裝置，其特征在于：所述夾臂的端部通過銷軸與凹槽活動鉸接。
4.根據權利要求3所述的一種引線框架翹曲度測量裝置，其特征在于：所述夾臂靠近所述輔助架的一端底部固定有拉簧，拉簧的另一端固定在輔助架的側壁中部。
5.根據權利要求4所述的一種引線框架翹曲度測量裝置，其特征在于：所述輔助架靠近基板的一端上部垂直固定有側向擋板。
6.根據權利要求1所述的一種引線框架翹曲度測量裝置，其特征在于：所述滑套兩側內壁均活動嵌入有三個等距分布的滾珠。
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H01 基本電氣元件
H01L 半導體器件；其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置；專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理；集成電路器件或其特殊部件的制造
H01L 半導體器件；其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置；專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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