[實(shí)用新型]一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202220742814.2 | 申請(qǐng)日: | 2022-04-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN216939758U | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳石;祁斐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | B23Q17/20 | 分類號(hào): | B23Q17/20;B23Q17/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 150080 黑龍*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 形試件 標(biāo)準(zhǔn)件 快速 定位 測(cè)量 裝置 | ||
1.一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置,有:S形試件(1),其特征在于:在S形試件(1)的S形曲面表面刻有X方向標(biāo)記線(2)以及Z方向標(biāo)記線(3),發(fā)射水平方向光線的激光裝置(4)可以發(fā)射平行于S形試件底座平面的光線,發(fā)射豎直方向光線的激光裝置(5)可以發(fā)射垂直于S形試件底座平面的光線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置,其特征在于:所述的S形試件(1)的S形曲面表面刻有X方向標(biāo)記線(2)以及Z方向標(biāo)記線(3),其標(biāo)記線是在高精度機(jī)床對(duì)S形試件進(jìn)行加工過(guò)程中同時(shí)完成,標(biāo)記線的寬度應(yīng)大于0.1毫米并小于0.15毫米,標(biāo)記線的長(zhǎng)度應(yīng)大于5毫米并小于10毫米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置,其特征在于:所述的X方向標(biāo)記線(2)位置需根據(jù)GB/T 39967-2021標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的推薦測(cè)量點(diǎn)的X坐標(biāo)值確定。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置,其特征在于:所述的Z方向標(biāo)記線(3)位置需根據(jù)GB/T 39967-2021標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的推薦測(cè)量點(diǎn)的Z坐標(biāo)值確定。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置,其特征在于:所述的發(fā)射水平方向光線的激光裝置(4)可以發(fā)射的光線直徑應(yīng)大于0.1毫米并小于0.15毫米。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種以S形試件為標(biāo)準(zhǔn)件快速定位其測(cè)量點(diǎn)的裝置,其特征在于:所述的發(fā)射豎直方向光線的激光裝置(5)可以發(fā)射的光線直徑應(yīng)大于0.1毫米并小于0.15毫米。
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