[實用新型]用于分離芯片和膜的分離機構有效
| 申請號: | 202220698192.8 | 申請日: | 2022-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN216957989U | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發明(設計)人: | 白生祥 | 申請(專利權)人: | 江蘇長電科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683 |
| 代理公司: | 杭州五洲普華專利代理事務所(特殊普通合伙) 33260 | 代理人: | 朱林軍 |
| 地址: | 214400 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 分離 芯片 機構 | ||
本申請公開了一種用于分離芯片和膜的分離機構,包括具有空腔的真空吸附件,真空吸附件的上端具有凸部,凸部上具有多個間隔設置的剝離孔,剝離孔與空腔連通,凸部用于支撐上端面粘有芯片的膜,當空腔產生負壓時,與剝離孔對應的膜發生曲狀變形并嵌入剝離孔,實現膜與芯片的剝離。本申請的分離機構不使用頂針,由凸部上的剝離孔實現芯片與膜的分離。相對于頂針頂起式剝離而言:節省了頂針和升降元件,有效的降低了裝片工序的生產成本;減少了因為頂針沖擊芯片底部造成的損傷面風險;由于不需要使用頂針,在改機更換產品時可提升升降調試的效率。
技術領域
本實用新型涉及半導體封裝技術領域,具體涉及一種用于分離芯片和膜的分離機構。
背景技術
目前封裝廠裝片機在將芯片與藍膜分離方式采用頂針頂起剝離方式,如圖1所示,為頂針頂起剝離的原理圖,工作原理為:需作業的芯片1移至頂針4正上方位置,頂針帽3產生負壓,通過細孔31吸附住芯片1底下的藍膜2,然后升降元件控制頂針4上升作業,頂在芯片1底下的藍膜2上,使芯片1持續上升,出現芯片1與底下藍膜2的分離,當頂針4上升至一定高度時,實現芯片1與藍膜2之間的完全剝離。現有的剝離機構存在以下問題:
1、頂針沖擊芯片底部容易造成芯片破裂的風險;
2、在改機更換產品型號時,需要花費大量時間調整芯片、頂針和頂針帽之間的理想位置,否則容易造成頂針斷裂或芯片裝片傾斜等一系列問題。
實用新型內容
本實用新型針對上述問題,克服至少一個不足,提出了一種用于分離芯片和膜的分離機構。
本實用新型采取的技術方案如下:
一種用于分離芯片和膜的分離機構,包括具有空腔的真空吸附件,所述真空吸附件的上端具有凸部,所述凸部上具有多個間隔設置的剝離孔,所述剝離孔與所述空腔連通,所述凸部用于支撐上端面粘有芯片的膜,當空腔產生負壓時,與剝離孔對應的膜發生曲狀變形并嵌入剝離孔,實現膜與芯片的剝離。
本申請的分離機構不使用頂針,由凸部上的剝離孔實現芯片與膜的分離。相對于頂針頂起式剝離而言:節省了頂針和升降元件,有效的降低了裝片工序的生產成本;減少了因為頂針沖擊芯片底部造成的損傷面風險;由于不需要使用頂針,在改機更換產品時可提升調試的效率。
于本實用新型其中一實施例中,所述凸部的上端面具有凸起結構,所述凸起結構繞設在剝離孔的周沿。
設置凸起結構能夠降低剝離孔周沿與凸部的接觸面積,方便膜更好的曲狀變形。
于本實用新型其中一實施例中,所述剝離孔周沿的凸起結構與膜為線接觸。
于本實用新型其中一實施例中,所述剝離孔周沿的凸起結構與膜為面接觸。
于本實用新型其中一實施例中,所述凸起結構越靠上橫截面面積越小。
于本實用新型其中一實施例中,所述真空吸附件上還安裝有與空腔連通的連接頭,所述連接頭用于連接真空裝置。
于本實用新型其中一實施例中,所述真空裝置為真空泵。
本實用新型的有益效果是:本申請的分離機構不使用頂針,由凸部上的剝離孔實現芯片與膜的分離。相對于頂針頂起式剝離而言:節省了頂針和升降元件,有效的降低了裝片工序的生產成本;減少了因為頂針沖擊芯片底部造成的損傷面風險;由于不需要使用頂針,在改機更換產品時可提升調試的效率。
附圖說明
圖1是現有頂針頂起剝離的原理圖;
圖2是用于分離芯片和膜的分離機構的結構示意圖;
圖3是圖2中藍膜發生曲狀變形并嵌入剝離孔后的示意圖。
圖中各附圖標記為:
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





