[實用新型]一種自動化測量儀精度校準塊規裝置

有效

• 申請號: 202220511741.6
• 申請日: 2022-03-10
• 公開（公告）號: CN216869401U
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 黃金良;袁強;劉磊;高美山
• 申請（專利權）人: 江蘇匯成光電有限公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 王峰

1.一種自動化測量儀精度校準塊規裝置，包括檢測平臺，檢測平臺上設置有檢測臺盤，檢測臺盤上布滿開設有若干貫穿檢測臺盤的檢測通孔，其特征在于，所述檢測平臺上固定設置有至少一個檢測底座，檢測底座中部設置有檢測塊硅，檢測底座通過兩個左右對稱的豎直固定螺栓與檢測平臺相固定連接，所述檢測塊硅和檢測底座均呈圓形，檢測塊硅和檢測底座同軸設置，所述檢測底座中部開設有可容檢測塊硅嵌入的安裝孔，檢測塊硅的厚度為0.49~0.51mm，檢測底座的高度為9.9~10.1mm。

2.根據權利要求1所述的一種自動化測量儀精度校準塊規裝置，其特征在于，所述安裝孔豎直貫穿檢測底座設置，安裝孔包括上方的大徑孔段和下方的小徑孔段，檢測塊硅包括上硅體和下硅體，上硅體匹配嵌入大徑孔段，下硅體匹配嵌入小徑孔段，上硅體與檢測底座的上表面相平齊。

3.根據權利要求2所述的一種自動化測量儀精度校準塊規裝置，其特征在于，所述檢測平臺上對應檢測塊硅的下硅體貫穿開設有穿過孔。

4.根據權利要求1-3任一項所述的一種自動化測量儀精度校準塊規裝置，其特征在于，所述檢測塊硅的直徑為9.9~10.1mm，檢測底座的直徑為29.9~30.1mm。

5.根據權利要求1-3任一項所述的一種自動化測量儀精度校準塊規裝置，其特征在于，所述檢測平臺上設置有兩個左右對稱的檢測底座。

6.根據權利要求1-3任一項所述的一種自動化測量儀精度校準塊規裝置，其特征在于，所述檢測平臺和檢測臺盤均呈圓形，檢測平臺和檢測臺盤同軸設置，檢測通孔的孔徑為10mm，左右相鄰、前后相鄰的兩個檢測通孔的圓心間距均為20mm，檢測平臺和的上方和下方均設置有一個檢測傳感器。