[實用新型]一種氮化鎵發光二極管外延片有效
| 申請號: | 202220326794.0 | 申請日: | 2022-02-18 |
| 公開(公告)號: | CN216958071U | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發明(設計)人: | 解向榮;吳永勝;劉恒山;馬野 | 申請(專利權)人: | 福建兆元光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/12 | 分類號: | H01L33/12;H01L33/14;H01L33/00 |
| 代理公司: | 福州市博深專利事務所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 唐燕玲 |
| 地址: | 350109 福建省福州*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氮化 發光二極管 外延 | ||
本實用新型公開了一種氮化鎵發光二極管外延片,在襯底上依次生長氮化鋁薄膜緩沖層、非摻雜氮化鎵層和非摻雜鋁鎵氮層;在非摻雜鋁鎵氮層上生長第一重摻雜N型氮化鎵層,對第一重摻雜N型氮化鎵層進行粗化和邊緣處理,能夠增加出光角度并且釋放第一重摻雜N型氮化鎵層中的應力;在第一重摻雜N型氮化鎵層上生長二氧化硅層,對二氧化硅層進行圖形化刻蝕以及在所述第一重摻雜N型氮化鎵層和所述二氧化硅層表面上生長的第二重摻雜N型氮化鎵層,能夠在圖形化刻蝕時露出第一重摻雜N型氮化鎵層的表面,利用二氧化硅層不導電的特性讓載流子在從N到P的方向上移動,從而在降低氮化鎵結構中位錯密度的同時提升電流擴展能力。
技術領域
本實用新型涉及半導體技術領域,特別涉及一種氮化鎵發光二極管外延片。
背景技術
隨著小間距LED的發展需求,Mirco LED的市場需求越來越大,由于其相對于傳統LCD有著高亮、高對比度、高分辨率以及長壽命等技術優勢,特別是mini背光產品,未來將全面應用于手機屏、戶內戶外顯示屏等領域。
要實現Mirco LED,氮化鎵外延技術至關重要,首先Mirco LED對氮化鎵外延片的電性一致性要求很高,目前氮化鎵外延片都是在藍寶石襯底上進行氮化鎵基LED的生長,由于藍寶石襯底和氮化鎵材料失配較大的問題,導致氮化鎵基外延結構中存在大量的位錯,結果導致伏安特性一致性較差,因此降低氮化鎵結構中位錯密度對Mirco LED外延片是一個技術難點。
目前降低氮化鎵外延結構的位錯方法分為三種:
1.將藍寶石制作成PSS(Patterned Sapphire Substrate,圖形化藍寶石襯底),可以有效減少氮化鎵層的螺型位錯,一般都為圓錐形圖形,高度一般為
1.8-1.9μm,且隨著圖形高度的增加,可以有效提升氮化鎵的晶體質量,但是應用于背光產品,由于圖形化原因,會減少背面出光,減少光的提取效率。
2.在生長氮化鎵結構前,首先在藍寶石上濺射一層氮化鋁薄膜緩沖層,然后在MOCVD(金屬有機化合物化學氣相沉淀)設備反應腔體內,保持腔體在一定的壓力下,在氮化鋁薄膜上進行非摻雜氮化鎵外延生長,再進行N型氮化鎵生長,在一定程度上可以減少N型氮化鎵結構里的位錯,但是由于AL-N鍵能強,高品質的氮化鋁薄膜很難制作,同時氮化鋁和氮化鎵之間仍然存在較大的晶格失配和熱失配,同樣會給N型氮化鎵材料引入較高的位錯密度。
3.在非摻雜氮化鎵生長之后和電子提供層N型氮化鎵中間生長一層鋁鎵氮,在鋁鎵氮上生長N型氮化鎵,也可以在一定程度上減少N型氮化鎵結構里的位錯,但是底部氮化鋁和非摻雜氮化鎵之間帶來的大量位錯,仍然會經過鋁鎵氮層穿透進入N型氮化鎵層,形成缺陷,當外延片加工成芯片,注入電流的時候,由于N型氮化鎵層中缺陷較多,載流子會從缺陷處穿過,造成電流擴展不佳,影響LED的發光效率。
實用新型內容
本實用新型所要解決的技術問題是:提供一種氮化鎵發光二極管外延片,能夠降低氮化鎵結構中位錯密度的同時提升電流擴展能力。
為了解決上述技術問題,本實用新型采用的技術方案為:
一種氮化鎵發光二極管外延片,包括在襯底上依次生長的氮化鋁薄膜緩沖層、非摻雜氮化鎵層、非摻雜鋁鎵氮層和重摻雜N型氮化鎵層;
所述重摻雜N型氮化鎵層包括依次生長的進行粗化和邊緣處理的第一重摻雜N型氮化鎵層、圖形化刻蝕的二氧化硅層以及在所述第一重摻雜N型氮化鎵層和所述二氧化硅層表面上生長的第二重摻雜N型氮化鎵層。
進一步地,所述二氧化硅層為刻蝕有預設間距的圖形化二氧化硅層,所述二氧化硅層圖形間隔處的刻蝕深度等于所述二氧化硅層的高度。
進一步地,所述二氧化硅層為刻蝕成納米級凹面周期排列的圖形化材料,所述二氧化硅層的圖形化間距為0.15-0.5μm,所述圖形包括正六角形、正四方形、正圓形或者正圓錐形。
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