[實用新型]一種芯片重力測試倒管輔助工具

有效

• 申請號: 202220299503.3
• 申請日: 2022-02-15
• 公開（公告）號: CN216735012U
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 陳宗廷;戴洋洋;陳建光
• 申請（專利權）人: 深圳市耀星微電子有限公司
• 主分類號: B65B43/46
• 分類號: B65B43/46
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片重力測試倒管輔助工具，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上對稱固定設置有兩個側板(2)，兩個所述側板(2)之間轉動設置有倒管盒(3)，所述倒管盒(3)通過轉動機構轉動設置在兩個側板(2)上，所述倒管盒(3)內開設有倒管室，且所述倒管盒(3)的兩側側壁上均固定插設有料管(4)，所述倒管盒(3)的兩側側壁上均開設有與料管(4)對應的插口，所述倒管室內對稱設置又兩個限位環(6)，兩個所述限位環(6)均通過連桿(5)與倒管室的上壁相連接，所述倒管盒(3)的兩側側壁上均設有與兩個料管(4)對應的固定機構。

2.根據權利要求1所述的一種芯片重力測試倒管輔助工具，其特征在于，所述轉動機構包括兩個轉座(7)，兩個所述轉座(7)對稱固定設置在倒管盒(3)的兩側側壁上，兩個所述側板(2)上開設有與轉座(7)對應的轉槽(13)，兩個所述轉槽(13)內均設有與轉座(7)對應的限制機構。

3.根據權利要求2所述的一種芯片重力測試倒管輔助工具，其特征在于，所述限制機構包括兩個卡塊(15)，兩個所述轉槽(13)的上壁均開設有卡塊(15)對應的伸縮槽(14)，兩個所述卡塊(15)分別滑動設置在兩個伸縮槽(14)內，且兩個所述卡塊(15)均通過第二彈簧(16)與伸縮槽(14)的內壁相連接，兩個所述轉座(7)上均開設有與卡塊(15)對應的卡槽，兩個所述卡塊(15)上均設有與之對應的控制機構。

4.根據權利要求3所述的一種芯片重力測試倒管輔助工具，其特征在于，所述控制機構包括兩個拉桿(17)，兩個所述拉桿(17)分別固定設置在兩個卡塊(15)靠近第二彈簧(16)的一側側壁上，且兩個所述拉桿(17)均滑動貫穿兩個側板(2)的上壁設置，兩個所述側板(2)的上壁均開設有與拉桿(17)對應的滑口，兩個所述拉桿(17)遠離卡塊(15)的一端均固定設置有拉柄。

5.根據權利要求1所述的一種芯片重力測試倒管輔助工具，其特征在于，所述固定機構包括四個夾持板(12)，四個所述夾持板(12)兩兩一組對稱設置在兩個料管(4)的兩側，且每個所述夾持板(12)遠離料管(4)的一側均固定設置有連板(10)，每個所述連板(10)均通過滑桿(9)滑動設置在倒管盒(3)上，所述倒管盒(3)的兩側側壁上均開設有兩個與滑桿(9)對應的滑槽(8)，每個所述滑桿(9)均通過第一彈簧(11)與滑槽(8)的一側側壁相連接。