[發(fā)明專利]一種用于開短路測(cè)試的繼電器控制電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211717016.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115980624A | 公開(公告)日: | 2023-04-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉曜軒;劉偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州威達(dá)智科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/52 | 分類號(hào): | G01R31/52;G01R31/54;G01R15/12 |
| 代理公司: | 蘇州翔遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陸金星 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市中國(*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 短路 測(cè)試 繼電器 控制電路 | ||
本發(fā)明公開的一種用于開短路測(cè)試的繼電器控制電路,包括主控芯片與若干個(gè)移位寄存器;若干個(gè)移位寄存器與主控芯片電性連接,若干個(gè)移位寄存器并列設(shè)置;主控芯片的輸出端連接移位寄存器的輸入端;主控芯片用于若干個(gè)移位寄存器的邏輯控制;移位寄存器用于控制繼電器的開合,通過8位移位寄存器串轉(zhuǎn)并的方式,節(jié)省了主控芯片GPIO的用量,可選擇GPIO數(shù)量更少的主控芯片對(duì)繼電器進(jìn)行控制,減少了成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及繼電器控制領(lǐng)域,更具體的,涉及一種用于開短路測(cè)試的繼電器控制電路。
背景技術(shù)
開短路測(cè)試通常稱為連接性或連續(xù)性測(cè)試,在集成電路或者電子模塊測(cè)試中有廣泛的運(yùn)用,通過開短路測(cè)試能及早發(fā)現(xiàn)不良品,提高生產(chǎn)效率。對(duì)于被測(cè)引腳較多的集成電路或電子模塊的開短路測(cè)試,需要通過輪詢切換的方式進(jìn)行測(cè)試,此時(shí)需要合適數(shù)量的繼電器來進(jìn)行切換,被測(cè)引腳越多,需要用到的繼電器也越多,而每個(gè)繼電器需要一個(gè)獨(dú)立的控制信號(hào)來進(jìn)行開合控制。
繼電器的閉合與斷開的切換控制一般通過外部芯片的輸出引腳來實(shí)現(xiàn),一個(gè)繼電器需要一個(gè)單獨(dú)的輸出引腳控制,一般選擇帶有GPIO的主控芯片,比如單片機(jī)、FPGA或擴(kuò)展GPIO芯片,如果繼電器的數(shù)量很多,則需要選擇擁有相應(yīng)數(shù)量GPIO的主控芯片,或者多個(gè)這樣的主控芯片進(jìn)行組合。
被測(cè)產(chǎn)品的引腳很多時(shí),需要很多的繼電器進(jìn)行開短路測(cè)試的切換,此時(shí)一般會(huì)采用擁有很多GPIO引腳的主控芯片或者多個(gè)這樣的主控芯片進(jìn)行組合,這不僅增加了成本,同時(shí)也由于芯片的引腳很多,芯片的體積也變大了,或者數(shù)量變多了,在面積一定的PCB上,增加了布局布線的難度。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述至少一個(gè)技術(shù)問題,本發(fā)明提出了一種用于開短路測(cè)試的繼電器控制電路。
本發(fā)明第一方面提供了一種用于開短路測(cè)試的繼電器控制電路,包括:主控芯片與若干個(gè)移位寄存器;
若干個(gè)所述移位寄存器與所述主控芯片電性連接,若干個(gè)所述移位寄存器并列設(shè)置;所述主控芯片的輸出端連接所述移位寄存器的輸入端;
所述主控芯片用于若干個(gè)所述移位寄存器的邏輯控制;
所述移位寄存器用于控制繼電器的開合。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述主控芯片包括多個(gè)輸出引腳,所述輸出引腳輸出控制信號(hào)用于控制移位寄存器。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述控制信號(hào)包括串行時(shí)鐘信號(hào)、并行時(shí)鐘信號(hào)、輸出使能信號(hào)及清零信號(hào)中的一種或兩種以上的組合。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述移位寄存器為8位移位寄存器,每一個(gè)移位寄存器均輸出8路控制信號(hào),每一路控制信號(hào)控制一個(gè)繼電器。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述移位寄存器包括多個(gè)輸入的控制引腳與一組輸出引腳。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述繼電器的輸出信號(hào)電性連接有達(dá)林頓管,所述達(dá)林頓管用于電流的放大。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述移位寄存器為2個(gè),兩個(gè)所述移位寄存器連接有16個(gè)繼電器。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述主控芯片為單片機(jī)、FPGA或擴(kuò)展GPIO芯片中的一種。
本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例中,所述移位寄存器的芯片型號(hào)為74VHC595的邏輯芯片。
本發(fā)明的上述技術(shù)方案相比現(xiàn)有技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn):
通過8位移位寄存器串轉(zhuǎn)并的方式,節(jié)省了主控芯片GPIO的用量,可選擇GPIO數(shù)量更少的主控芯片對(duì)繼電器進(jìn)行控制,減少了成本。
附圖說明
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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