[發(fā)明專利]一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211717016.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115980624A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-04-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉曜軒;劉偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州威達(dá)智科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/52 | 分類號(hào): | G01R31/52;G01R31/54;G01R15/12 |
| 代理公司: | 蘇州翔遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陸金星 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市中國(guó)(*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 短路 測(cè)試 繼電器 控制電路 | ||
1.一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,包括:主控芯片與若干個(gè)移位寄存器;其特征在于,
若干個(gè)所述移位寄存器與所述主控芯片電性連接,若干個(gè)所述移位寄存器并列設(shè)置;所述主控芯片的輸出端連接所述移位寄存器的輸入端;
所述主控芯片用于若干個(gè)所述移位寄存器的邏輯控制;
所述移位寄存器用于控制繼電器的開(kāi)合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述主控芯片包括多個(gè)輸出引腳,所述輸出引腳輸出控制信號(hào)用于控制移位寄存器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述控制信號(hào)包括串行時(shí)鐘信號(hào)、并行時(shí)鐘信號(hào)、輸出使能信號(hào)及清零信號(hào)中的一種或兩種以上的組合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述移位寄存器為8位移位寄存器,每一個(gè)移位寄存器均輸出8路控制信號(hào),每一路控制信號(hào)控制一個(gè)繼電器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述移位寄存器包括多個(gè)輸入的控制引腳與一組輸出引腳。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述繼電器的輸出信號(hào)電性連接有達(dá)林頓管,所述達(dá)林頓管用于電流的放大。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述移位寄存器為2個(gè),兩個(gè)所述移位寄存器連接有16個(gè)繼電器。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述主控芯片為單片機(jī)、FPGA或擴(kuò)展GPIO芯片中的一種。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于開(kāi)短路測(cè)試的繼電器控制電路,其特征在于,所述移位寄存器的芯片型號(hào)為74VHC595的邏輯芯片。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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