[發(fā)明專利]一種面板缺陷增強檢測方法及系統(tǒng)及裝置及介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211702022.3
• 申請日: 2022-12-29
• 公開（公告）號: CN115661159B
• 公開（公告）日: 2023-03-07
• 發(fā)明（設計）人: 請求不公布姓名
• 申請（專利權）人: 成都數(shù)聯(lián)云算科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/50;G06V10/75
• 代理公司: 成都云縱知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 51316
• 代理人: 熊曦

1.一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，所述面板缺陷增強檢測方法包括以下步驟：

步驟1：采集樣本面板圖像并獲得對應的第一灰度曲線；

步驟2：對所述樣本面板圖像進行灰度增強，并記錄對應的第一灰度增強參數(shù)；

步驟3：采集待檢測面板的灰度圖像，獲得對應的第二灰度曲線；

步驟4：對所述第一灰度曲線和所述第二灰度曲線進行匹配，獲得匹配結果，根據(jù)所述匹配結果和所述第一灰度增強參數(shù)獲得對應的第二灰度增強參數(shù)；

步驟5：根據(jù)所述第二灰度增強參數(shù)對所述灰度圖像進行灰度增強，獲得目標面板圖像；

步驟6：分析所述目標面板圖像，獲得第一面板缺陷數(shù)據(jù)；

步驟7：采集所述待檢測面板的單色圖像，對所述單色圖像進行差分處理，獲得差分圖像，分析所述差分圖像，獲得第二面板缺陷數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，所述步驟2具體為：獲得所述樣本面板圖像對應的圖像灰度分布數(shù)據(jù)；

對所述圖像灰度分布數(shù)據(jù)進行擬合，獲得擬合曲線；

根據(jù)所述擬合曲線對所述圖像灰度分布數(shù)據(jù)進行增強，并記錄對應的第一灰度增強參數(shù)。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，獲得樣本面板圖像對應的圖像灰度分布數(shù)據(jù)后，首先根據(jù)所述圖像分布數(shù)據(jù)獲得至少一個錨點，然后根據(jù)樣條回歸算法和所述錨點對所述圖像灰度分布數(shù)據(jù)進行擬合，其中，所述錨點用于對所述圖像分布數(shù)據(jù)進行分段。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，所述步驟1具體為：采集樣本面板圖像并獲得對應的第一灰度曲線和第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)包括制程數(shù)據(jù)和設備數(shù)據(jù)；

所述步驟3具體為：采集待檢測面板的灰度圖像，獲得對應的第二灰度曲線和第二數(shù)據(jù)，所述第二數(shù)據(jù)包括制程數(shù)據(jù)和設備數(shù)據(jù)；

所述步驟4具體為：對所述第一灰度曲線和第二灰度曲線進行匹配，獲得第一匹配結果；對所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)進行匹配，獲得第二匹配結果；根據(jù)所述第一匹配結果、所述第二匹配結果和所述第一灰度增強參數(shù)獲得對應的第二灰度增強參數(shù)；

所述步驟5具體為：根據(jù)所述第二灰度增強參數(shù)對所述灰度圖像進行灰度增強，獲得目標面板圖像。

5.根據(jù)權利要求1所述的一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，所述步驟3具體為：采集所述待檢測面板的灰度圖像，獲得所述灰度圖像的分辨率；

根據(jù)所述分辨率對所述灰度圖像進行縮放，獲得對應的縮略圖；

獲得所述縮略圖對應的第三灰度曲線；

所述步驟4具體為：對所述第三灰度曲線和所述第一灰度曲線進行匹配，獲得匹配結果，根據(jù)所述匹配結果和所述第一灰度增強參數(shù)獲得對應的第二灰度增強參數(shù)。

6.根據(jù)權利要求1所述的一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，所述步驟3具體為：采集待檢測面板的灰度圖像，并對所述灰度進行分區(qū)，獲得至少兩個子區(qū)域；

對所述子區(qū)域進行編號，并分別獲得所述子區(qū)域?qū)牡谒幕叶惹€；

對所述第四灰度曲線進行篩選，獲得篩選結果；

所述步驟4具體為：對所述第四灰度曲線和所述第一灰度曲線進行匹配，獲得匹配結果，根據(jù)所述匹配結果和所述第一灰度增強參數(shù)獲得對應的第二灰度增強參數(shù)。

7.根據(jù)權利要求1所述的一種面板缺陷增強檢測方法，其特征在于，獲得所述單色圖像后首先根據(jù)所述第一面板缺陷數(shù)據(jù)對所述單色圖像進行補償，然后對所述單色圖像進行差分處理，獲得所述差分圖像。