[發(fā)明專利]工件邊緣微弱缺陷的檢測方法、裝置及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211699991.8
• 申請日: 2022-12-28
• 公開（公告）號: CN116109572A
• 公開（公告）日: 2023-05-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周堯;時廣軍;周鐘海;趙嚴
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州凌云光工業(yè)智能技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T5/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 徐章偉

本申請公開了一種工件邊緣微弱缺陷的檢測方法、裝置及電子設(shè)備，屬于視覺檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：獲取待檢測工件的工件邊緣圖像；基于所述工件邊緣圖像的灰度信息，進行輪廓提取，得到所述工件邊緣圖像的目標邊緣輪廓；獲取所述目標邊緣輪廓的輪廓角度信息，所述輪廓角度信息包括所述目標邊緣輪廓中每個輪廓點的角度信息；基于所述輪廓角度信息，確定所述待檢測工件中所述目標邊緣輪廓的微弱缺陷檢測結(jié)果。該方法通過獲取待檢測工件邊緣的輪廓角度的特征，對獲得的輪廓角度信息進行輪廓角度的異常分析，實現(xiàn)工件邊緣微弱崩邊崩角、微弱毛刺等微弱缺陷的準確檢測，且檢測準確率高、成像要求低。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請屬于視覺檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種工件邊緣微弱缺陷的檢測方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

工件的邊緣為接觸部分，在加工或使用的過程中，邊緣容易出現(xiàn)崩邊崩角、毛刺等缺陷，邊緣存在的缺陷會影響工件的裝配、使用性能及工作壽命。

目前，對于成像較為明顯的崩邊崩角、毛刺等顯著缺陷，常通過圖像二值化后的開閉運算進行缺陷檢測，二值化操作對工業(yè)相機成像精度、成像灰度有一定要求，這類技術(shù)無法實現(xiàn)對成像不太明顯的微弱崩邊崩角、微弱毛刺等微弱缺陷的準確檢測。

因此，亟需一種能夠有效檢測工件邊緣的微弱崩邊崩角、微弱毛刺等微弱缺陷的機器視覺檢測方法。

發(fā)明內(nèi)容

本申請旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本申請?zhí)岢鲆环N工件邊緣微弱缺陷的檢測方法、裝置及電子設(shè)備，可以實現(xiàn)對微弱崩邊崩角、微弱毛刺等微弱缺陷的準確檢測。

第一方面，本申請?zhí)峁┝艘环N工件邊緣微弱缺陷的檢測方法，該方法包括：

獲取待檢測工件的工件邊緣圖像；

基于所述工件邊緣圖像的灰度信息，進行輪廓提取，得到所述工件邊緣圖像的目標邊緣輪廓；

獲取所述目標邊緣輪廓的輪廓角度信息，所述輪廓角度信息包括所述目標邊緣輪廓中每個輪廓點的角度信息；

基于所述輪廓角度信息，確定所述待檢測工件中所述目標邊緣輪廓的微弱缺陷檢測結(jié)果。

根據(jù)本申請的工件邊緣微弱缺陷的檢測方法，通過獲取待檢測工件邊緣的輪廓角度的特征，對獲得的輪廓角度信息進行輪廓角度的異常分析，實現(xiàn)工件邊緣微弱崩邊崩角、微弱毛刺等微弱缺陷的準確檢測，且檢測準確率高、成像要求低。

根據(jù)本申請的一個實施例，所述基于所述輪廓角度信息，確定所述待檢測工件中所述目標邊緣輪廓的微弱缺陷檢測結(jié)果，包括：

在基于所述輪廓角度信息，確定所述目標邊緣輪廓存在目標輪廓點的情況下，確定所述目標邊緣輪廓存在微弱缺陷；

其中，所述目標輪廓點的角度信息和與所述目標輪廓點相鄰的輪廓點的角度信息的差值大于第一角度閾值。

根據(jù)本申請的一個實施例，所述基于所述輪廓角度信息，確定所述目標邊緣輪廓存在目標輪廓點，包括：

基于所述輪廓角度信息，獲得第一角度函數(shù)；

對所述輪廓角度信息進行平滑處理，并基于平滑處理后的所述輪廓角度信息，擬合得到第二角度函數(shù)；

基于所述第一角度函數(shù)和所述第二角度函數(shù)，得到至少一個第一閉合區(qū)域；

在確定所述第一閉合區(qū)域的區(qū)域面積大于第一面積閾值的情況下，確定所述第一閉合區(qū)域內(nèi)的輪廓點為所述目標輪廓點。

根據(jù)本申請的一個實施例，所述基于平滑處理后的所述輪廓角度信息，擬合得到第二角度函數(shù)，包括：

基于所述目標邊緣輪廓的邊緣形狀，對所述平滑處理后的所述輪廓角度信息進行線性擬合或高次擬合，得到所述第二角度函數(shù)。