[發(fā)明專利]一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預(yù)測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211670487.5 | 申請日: | 2022-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN116127723A | 公開(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 譚靜;侯濤;關(guān)國華 | 申請(專利權(quán))人: | 中車永濟(jì)電機(jī)有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G01R31/392;G06F119/04 |
| 代理公司: | 太原科衛(wèi)專利事務(wù)所(普通合伙) 14100 | 代理人: | 朱源 |
| 地址: | 044500 山*** | 國省代碼: | 山西;14 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 充電 時間 電容 評估 剩余 壽命 預(yù)測 方法 | ||
本發(fā)明涉及電容壽命預(yù)測方法,具體為一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預(yù)測方法。本發(fā)明方法通過半實(shí)物仿真,建立容值衰退100%到70%衰退充電至800V對應(yīng)時間的參數(shù),得到每個容值下的充電時間數(shù)據(jù),由此建立符合產(chǎn)品特性偏差和衰退趨勢的電容狀態(tài)識別SVM模型及電容衰退狀態(tài)模型。由于電容的衰變是個長期的過程,對電容充電到800V的時間進(jìn)行實(shí)時監(jiān)測,通過網(wǎng)絡(luò)1次/秒的數(shù)據(jù)傳輸至地面運(yùn)維平臺,通過對新裝車電容充電時間值進(jìn)行收集整理,選擇出現(xiàn)頻次最高及次高的充電時間值作為原始值重新進(jìn)行模型訓(xùn)練;通過定期對充電至指定電壓的充電時間進(jìn)行監(jiān)測,評估電容當(dāng)前容值,并進(jìn)行壽命預(yù)測。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電容壽命預(yù)測方法,具體為一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預(yù)測方法。
背景技術(shù)
隨著交流傳動軌道交通設(shè)備使用年限的增加,用戶對運(yùn)營成本關(guān)注度的提升,為了更好的保證一個維修期后產(chǎn)品的在線運(yùn)行可靠性,提升產(chǎn)品關(guān)鍵部件在線的監(jiān)測能力,為產(chǎn)品提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù),而電容作為變流裝置內(nèi)關(guān)鍵的壽命部件,如何根據(jù)產(chǎn)品控制電路采樣特點(diǎn),精準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)容值識別,成為變流裝置PHM研究的重要方向。
現(xiàn)有技術(shù)方案是通過對典型器件的失效特征和失效應(yīng)力進(jìn)行研究,建立加速老化試驗(yàn),膜電容其壽命預(yù)計(jì)公式為:
式中:L:工作負(fù)荷下(場強(qiáng)E)的使用壽命(h);
L0:設(shè)計(jì)時(場強(qiáng)E0)的使用壽命(105h,是國際上通常慣例,多年經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù))。
E0:設(shè)計(jì)時的電場強(qiáng)度(V/m)。
T0:設(shè)計(jì)時的溫度。
Ths:工作負(fù)荷(電壓)下的電容器溫度(℃)。
C:阿雷尼厄斯(Arrhenius)系數(shù)(約等于13)。
通過加速老化試驗(yàn)構(gòu)建各個典型應(yīng)力下的壽命值:
根據(jù)線性疲勞累計(jì)損傷模型,進(jìn)行估算,式中:ni在第i個應(yīng)力水平下的循環(huán)次數(shù);Ni在第i個應(yīng)力水平下產(chǎn)品失效循環(huán)次數(shù);在第i個應(yīng)力水平的損傷率;將上式的循環(huán)次數(shù)用壽命來表示:li在第i個應(yīng)力水平下的停留時間;Li在第i個應(yīng)力水平下產(chǎn)品壽命;在第i個應(yīng)力水平的損傷率,通過監(jiān)測每個應(yīng)力特性下的運(yùn)行時間進(jìn)行產(chǎn)品損傷度的評估。
該現(xiàn)有技術(shù)方案是典型的根據(jù)可靠性評估和應(yīng)力監(jiān)測建立壽命模型,各典型應(yīng)力下失效模型的建立過程需要進(jìn)行大量長期的加速老化試驗(yàn),消耗巨大。另外預(yù)測屬于基于概率的可靠性模型,對后期具體器件狀態(tài)缺乏監(jiān)測。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對現(xiàn)有的根據(jù)可靠性評估和應(yīng)力監(jiān)測建立壽命模型的方法消耗大且缺乏后期狀態(tài)監(jiān)測的問題,提供了一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預(yù)測方法。
本發(fā)明是采用如下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預(yù)測方法,包括以下步驟:建立容值衰退并充電至指定電壓的半實(shí)物仿真實(shí)驗(yàn),進(jìn)行多次充電試驗(yàn),得到每個容值下的充電時間數(shù)據(jù)組,根據(jù)每個容值下的充電時間數(shù)據(jù)組建立電容衰退狀態(tài)模型;將待預(yù)測新的電容實(shí)際運(yùn)行多次的充電時間數(shù)據(jù)組迭代電容衰退狀態(tài)模型,建立該電容的電容狀態(tài)識別模型并對其編碼;電容狀態(tài)識別模型發(fā)布后,將待預(yù)測電容充電至指定電壓的充電時間進(jìn)行監(jiān)測,該充電時間輸入到電容狀態(tài)識別模型評估電容當(dāng)前容值,并進(jìn)行壽命預(yù)測。
上述的一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預(yù)測方法,將剛裝車的全新待預(yù)測電容在實(shí)際環(huán)境中進(jìn)行多次充電至指定電壓,選擇出現(xiàn)頻次最高及次高的充電時間組值作為原始值,該原始值迭代到電容衰退狀態(tài)模型進(jìn)行電容狀態(tài)識別模型的搭建。
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